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信頼性評価・解析/宇宙関連など高信頼度製品用試験・評価を受託
半導体製造の中で培われた信頼性試験の技術でお客様の開発や品質維持向上をサポート致します。
製品・技術

高信頼度製品(宇宙向け電子製品など)用の試験・評価を受託

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高信頼度試験  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

人工衛星搭載用機器の組み立て・試験で培った評価ノウハウを提供

 

中央電子工業では、人工衛星など宇宙開発向け製品に搭載される
 部品などの「高信頼度製品用の試験・評価」を受託しています。

 

CDKの高信頼度製品用試験はココが違う!

 

宇宙開発向け製品(人工衛星搭載用部品)の開発・製造を行っており、
 高信頼度製品に対する試験の実施が可能

特殊な条件での試験が可能

高周波製品製造の強みがあるので、他社が持ってない設備を保有

 

人工衛星搭載用の探査機、補給機(HTV)などの高信頼性製品の開発・製造を行ってきており、組立・試験/評価も長年(約40年)実施しています。

高周波半導体製品の製造を行っているため、高周波(~24GHz)での試験環境、測定環境があります。

 

 

高信頼度製品用試験・評価の受託内容一覧

 

MIL-STD-202/750883をはじめ、各種規格にも対応いたします。

 

評価名 試験概要
各種
スクリーニング試験
それぞれの製品、条件にあわせたスクリーニングを実施します。
液相熱衝撃試験 温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
気相熱衝撃試験 温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
PIND デバイスキャビティ内部の遊離微粒子を検出します。
気密性試験 内部キャビティをもつデバイスの封止効果を評価します。
低温保存試験 保存や稼動における耐久性を温度を下げて評価します。
高低温特性評価 高低温雰囲気における製品の電気的特性の変動を評価します。
衝撃試験 デバイスの運搬、使用等における衝撃に対する耐性を試験します。
振動試験 振動によって生じるデバイスの電気的雑音量を測定します。

 

 

高信頼度製品用の試験・評価の詳細、対応規格と試験方法

 

液相熱衝撃試験

温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
媒体に液体を使用します。
使用媒体:水

・温度範囲 高温側:~100℃
      低温側:0℃~


使用媒体:ガルデン

・温度範囲 高温側:70~200℃
      低温側:-65~0℃

【対応する規格の例】

MIL-STD-202 METHOD 107
MIL-STD-750 METHOD 1056
MIL-STD-883 METHOD 1011  など

 気相熱衝撃試験

温度が極端に変化する条件におけるデバイスの耐性を評価します。
媒体に空気を使用します。
使用媒体:空気

・温度範囲 高温側:60~200℃
      低温側:-70~0℃

【対応する規格の例】

MIL-STD-202 METHOD 107
MIL-STD-750 METHOD 1056
MIL-STD-883 METHOD 1011 など

 PIND

中空ケース内部の異物有無を検査します。
  • 発信:27Hz
  • 加振:3~5g

【対応する規格の例】

MIL-STD-202 METHOD 217
MIL-STD-750 METHOD 2052
MIL-STD-883 METHOD 2020 など

気密性試験

中空ケースの機密性を試験します。
Heガスを用いたファインリーク試験とフロリナートを用いたグロスリーク試験を準備しています。
  • ファインリーク試験
     トレーサーガス=He
     公称値:10-8 atm cm3/s
  • グロスリーク試験
     液体を用いた気泡確認試験
     公称値:10-5 atm cm3/s

【対応する規格の例】

MIL-STD-202 METHOD 112
MIL-STD-883 METHOD 1014 など

低温保存試験

保存や稼動における耐久性を温度を下げて評価します。

低温保存試験装置 PG-2G TabaiEspec製 写真

  • 温度設定可能範囲
    -55℃~+100℃
  • 槽内寸法
    600(W)×850(D)×600(H) mm

 

 【設備】

低温保存試験装置
PG-2G TabaiEspec製

高低温特性評価

高温雰囲気、または低温雰囲気における製品の電気的特性の変動を評価します。
  • 高温:~200℃高低温特性評価装置の写真
  • 低温:-60℃~

電気的特性についてはDC、RFそれぞれ対応できます。

 

評価製品にあわせて測定部を調整/作成する必要があります。

まずはお気軽にご相談ください。

衝撃試験

デバイスの運搬、使用等における衝撃に対する耐性を試験します。
  • 最大加速度:2,000G
  • 波形:半正弦波

 

【対応する規格の例】

MIL-STD-202 METHOD 213
MIL-STD-750 METHOD 2016
MIL-STD-883 METHOD 2002
JEITA ED-4701 403A など


*弊社提携の試験施設で試験実施します。お気軽にお問い合わせください。

振動試験

振動によって生じるデバイスの電気的雑音量を測定します。
  • 最大荷重:500kgf
  • 周波数範囲:5~4,500Hz
  • 最大加速度:100G
  • 最大振幅:20mmP-P(X/Y/Z)

 

【対応する規格の例】


MIL-STD-202 METHOD 201

MIL-STD-750 METHOD 2051
MIL-STD-883 METHOD 2006
JEITA ED-4701 404A など


*弊社提携の試験施設で試験実施します。お気軽にお問い合わせください。

 

高信頼度製品用の試験・評価に関するお問い合わせ

 

高信頼度製品用の試験・評価なら、中央電子工業にお任せください。
付随する治具の作成、サンプルの外観・計測、電気的特性の測定などもニーズあわせて承ります。

また、試験途中の条件変更などにもフットワーク軽く対応します。まずは一度ご相談ください。

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