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形状解析レーザー顕微鏡による、面粗度測定/表面形状測定

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表面粗さ測定 電子材料 光学材料 製品・技術情報  /  セラミックス 電子・半導体 試験・分析・測定

表面状態を自動で一括解析 キーエンス製 VK-X150

 

セラテックジャパンは、レーザー顕微鏡 の導入により、ナノオーダーで高精度且つ安定した測定が可能です。

表面の「違い」「数値」「形状」がひと目で分かります。

 

正しく出てきた測定結果の解析業務を自動・正確・効率的に実施します。

測定結果を相対的・客観的に正しく解析することができます。

測定者によって解析がばらつきません。

また、あらゆる形状・材質のサンプル測定が可能です。

 

・赤色レーザーを使用した非接触表面形状測定器

・鏡面研磨品の表面粗さから、数百μmの段差まで測定可能
・測定視野:16μm~5400μm
・JIS1994/2001、ISO25178準拠

 

 

観察:最高倍率28800倍。カラーSEMのような高解像度観察。
測定:非接触ナノオーダーの分解能
   あらゆる素材の測定を可能にする高感度16bitセンシング
解析:表面粗さの違いを自動で一括解析。AI-Analyzer 

 

 

 

表面粗さ測定へのお問い合わせ

 

セラテックジャパンは、セラミックス素材の切断加工、研磨加工、研削加工、光学薄膜設計・成膜までトータルに対応。他社とは違い、すべて自社内で一貫生産できる体制を整えています。

さらに、最新鋭の測定機器の導入により、高い加工精度を保証できます。

 

表面粗さ測定のほか、セラミックス素材の切断加工、研磨加工、研削加工、光学薄膜についてお気軽にお問い合わせください。

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