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製品・技術

ロックイン赤外線発熱解析装置-非破壊・高精度な測定が可能

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計測器・測定システム  /  セラミックス 電子・半導体 試験・分析・測定

競合と比較して約1/3の低価格
デジタルロックインを標準搭載した発熱解析装置

 

ハイソルのロックイン赤外線発熱解析装置は、樹脂モールドの上からでも非破壊で故障箇所を特定。低コストなシステムで故障解析の第一歩に最適です。

  ロックイン赤外線発熱解析装置

 

 

 

ロックイン赤外線発熱解析装置の特長

  • 業界一の圧倒的なコストパフォーマンス
  • ロックイン機能を標準搭載
  • 発光解析や液晶発熱解析とは異なり、測定箇所を露出させる必要なし
  • 多彩な解析に対応したソフトウェア

 

 

  ロックイン機能

 

ロックイン機能とは、故障による発熱箇所を高精度に特定する技術です。
これまで検出することが困難であった樹脂モールドされた電子部品やプリント基板内部の配線、3D積層パッケージ内の故障箇所を高精度に特定することが可能です。

 

デモンストレーションが対応可能です。
ご希望がございましたらお気軽にご相談ください。

 

 

 

ロックイン赤外線発熱解析装置の仕様

 

メーカー Optotherm社 (オプトサーモ)

 

カメラ仕様

精度 ±2℃ もしくは ±2%
イメージキャプチャレート 30イメージ/秒
使用時周囲温度 15℃ to 35℃
保管時周囲温度 -40℃ to 80℃
カメラ寸法 89 x 76 x 200 mm
カメラ重量 1.4kg
消費電力 1.2W

 

検出器仕様

検出器タイプ 非冷却式マイクロボロメータ
画素数 320×240
検出波長 LWIR (7~14μm)
熱時定数 21msec
スタートアップタイム 5秒

 

 

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