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微小異物の採取、高精度な断面出し、試料加工などの高い技術と最新分析装置を駆使し、迅速に分析を実施、報告します。
有機多層膜の高分解能観察サービス(STEM観察)を開始しました!
製品・技術

異物採取、試料加工の技術を駆使した、迅速な微小異物分析

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異物分析  /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

異物の発生源の特定と工程改善に

 

プリント基板、液晶ディスプレイ、自動車、フィルム、薬品、医療などの分野において、製品の歩留に大きな影響を与える異物は、いち早く分析することが要求されます。
アイテスでは、異物の採取技術、試料加工技術を駆使して、迅速な分析結果をご報告します。

 

 

 

 アイテスの微小異物分析の特長

 

有機系異物の場合、

  • 20μm程度の分析が可能
    それ以下でも、同じ組成の異物が多数あれば集めて分析します
  • 異物が表面にあれば2μm程度の異物でも集めて分析が可能
  • 数が少ない場合はラマンで分析可能
  • 樹脂中に埋もれている場合は掘り出して分析することも可能

 

 

 

 

 異物分析技術の紹介

 

  異物分析のための採取技術

 

異物の採取 前処理 FT-IR分析
異物の採取   前処理   FT-IR分析

 

 

 

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  イメージングFT-IRによる微小有機異物の分析

 

イメージングFT-IR

サービス概要

顕微ATR法 :約5μm以上あれば異物のIRデータ取得可能
面分布像 :有機物の面内分布の観察が可能
時間変化 :秒単位で変化する有機物の状態測定が可能

 

 

 

特徴

測定方法 :イメージでデータ収集し、ピクセル単位でスペクトル表示
測定領域 :透過法/反射法 175μm、ATR法 35μm
空間分解能(ピクセルサイズ) :透過法/反射法 5.5μm、ATR法 1.1μm

 

 

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  多層膜中に埋もれた異物の掘り出し

 

多層薄膜中の異物 表面層の切り取り Siウェハ上に載変えサンプリング。FT-IR分析
多層薄膜中の異物   表面層の切り取り   Siウェハ上に載変えサンプリング。FT-IR分析

 

 

 

 

 

 アイテスの異物分析事例

 

不良を引き起こす20μmあるいはそれ以下の異物、特に有機系異物の分析を行うことにより、異物の発生源を特定し、工程改善に繋げることができます。

 

 

  微小異物の分析事例

 

ポリエチレン袋上の滑剤(約5μmΦ)   ポリエチレン袋上の滑剤(約5μmΦ)
10μm以下の異物でも数個集めて分析することが可能。 

 

滑剤のFT-IR分析例

 滑剤のFT-IR分析例

 

 

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  ポリエチレンフィルム上の滑剤の分析

 

滑剤の光学顕微鏡写真   脂肪酸アミドの分布   珪酸塩の分布
滑剤の光学顕微鏡写真   脂肪酸アミドの分布   脂肪酸アミドの分布

 

 

各ポイントのFT-IRスペクトル

各ポイントのFT-IRスペクトル

 

 

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微小異物分析に関する詳細は、お気軽に問合せください。