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業界最速、16m秒で抵抗値を計測。10TΩ以上の高抵抗値も正確・安定計測。[J-RAS]

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メールマガジン 受託分析/試験機器  / 2017年04月18日 /  化学・樹脂 電子・半導体 試験・分析・測定

No.2256 2017年4月18日

● 高精度の「マイグレーション試験」を行いたい…という皆さまへ

J-RAS株式会社様は、電子材料の測定・評価に必要な絶縁抵抗測定器(イオ
ンマイグレーションテスター)の開発・製造、販売を行っています。

発売して10年、同社の絶縁抵抗測定器「ECM-100シリーズ」は、様々な改良
を重ね性能と信頼性の向上に努めてきました。
独自のハイサイド計測方式、小型軽量筐体など、使い勝手の良いテスターは
既にご利用いただいているお客様から大変好評です。

筺体サイズは40CH/100CHの2タイプ、それぞれミニマム10CHからニーズに
合わせてシステム構成可能です。今までにない高速、高精度なデータ測定を
ご提供します。


■□――――――――― 【 ここにフォーカス 】 ―――――――――□■

複数の試験サンプルに電圧を印加、絶縁抵抗値を連続モニタリング
業界最速の16m秒で抵抗値を計測する「ECM-100シリーズ」


■□――――――――――――――――――――――――――――――□■


■ 信頼性の高いデータ計測が可能
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同社は、テスターのアナログ回路設計、ソフトウェア仕様決定を社内で行っ
ているため、ダイレクトかつ正確にお客様の声を製品にフィードバックでき
るのが強みです。

高性能アナログ計測回路と高速デジタル処理による多チャンネル絶縁抵抗計
測器で信頼性の高いデータ計測が可能です。

また、全チャンネルのデータを同時にサンプリング処理することで、抵抗値
計測スピードは、なんと業界最速の16m秒。それでいて、リークタッチ現象
(デンドライトによる瞬間短絡)を正確に検出します。

実際に、エンドユーザー様が計測されたデータでは、10TΩ以上という高い抵
抗であっても、ノイズやデータの乱れが皆無であることが確認されました。
従来のテスターでは計測が難しかった条件下でも、信頼性試験に十分活用で
きる計測データの取得が可能です。

>> 「ECM-100」による実際の計測データは、こちらをご覧ください

>> 計測データの詳細を含む製品カタログの無料ダウンロードはこちらから


■ プリント基板、電子材料の信頼性評価ならお任せ
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絶縁信頼性は、プリント基板、絶縁特性が要求される電子材料などにおいて
重要な評価項目です。

「ECM-100」は、プリント基板、はんだ、樹脂、導電性接着剤・絶縁材料など
のマイグレーションの測定・評価に利用可能です。他社製品からの乗り換え
をお考えでしたら、ぜひ「ECM-100」をご検討ください。

また、同社では、絶縁抵抗測定器の製造・販売だけでなく、本測定器を使用
した受託試験も実施しています。

>> マイグレーション試験の受託サービスについてはこちらから


絶縁抵抗測定器やマイグレーション試験について、ご質問、ご相談がござい
ましたら、お気軽にお問い合わせください。

>> 絶縁抵抗測定器・マイグレーション試験のお問い合わせはこちらから


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