メテック株式会社の設備紹介

 

 めっき設備

 

フープライン

フープめっきは、連なったロール状の製品にめっき加工を施す方法で、リール・ツー・リールめっきとも呼ばれています。連続生産できるため、生産性が高く、安定した品質が低コストで提供できます。

対応可能めっき

Ag(半光沢~超高光沢)、Cu、Sn、Sn-Bi、Sn-Cu、Zn

フープライン
 対応可能サイズ 製品幅15~60mm
 対応可能素材 Cu(Cu合金)、Fe、42材

 

 

 

シート式・ラック式めっきライン(全面・部分めっき対応)

シート式めっきは、専用の装置で短尺(シート)状のリードフレームを自動搬送し、部分銀・部分金めっきをつけます。半導体リードフレームの少量多品種のめっきに適しています。

ラック式めっきは、「ラック」と呼ばれる治具に製品を引っかけてめっきする方法です。作業効率がよく、試作から大量生産まで対応できます。

対応可能めっき Au、Ag、Ni、Pd、Su-Bi、Sn-Cu シート式めっきライン、ラック式めっきライン
対応可能サイズ 製品幅20~70mm
対応可能素材 Cu(Cu合金)、Fe、42材

 

 

バレルライン

バレルめっきは、「バレル」と呼ばれる円筒状の容器に製品を入れ、めっき液の中で回転させながらめっき加工を施す方法です。
テレビ・パソコン・携帯電話などの端子・フレーム・ネジ・ キャップ・スイッチ・リレー部品類へのめっきに対応しています。細かい製品を大量にめっきするときなどに適しています。

対応可能めっき: Au、Ag、Ni、Cu、Sn、Sn-Bi、Zn、無電解Ni バレルライン
対応可能サイズ: 応相談
対応可能素材: Cu(Cu合金)、Fe等 応相談

 

 

 

検査設備

 

蛍光X線膜厚計

高感度なX線の微小ビームを用いた膜厚測定機です。より微小な部分を非破壊で高精度に測定でき、特に単層・多層めっき皮膜の膜厚測定で活用されます。

仕様

SFT-9200(SIIナノテクノロジー社製)

上面垂直照射方式

めっきの組成調査などを非破壊に測定
用途

金属材料上のめっき厚測定
簡易スペクトル分析(定性分析)

 

 

蛍光X線分析装置

RoHS・ELV指令でも規制対象になっているカドミウムや鉛、水銀やクロムなどの分析を行います。高感度・高分解能な測定が可能です。

仕様 SEA1200VX(SIIナノテクノロジー社製) めっきに浮遊される元素を高感度・高分解能測定
用途 製品中に含有される元素の測定

 

 

微小面分光色差計

測定困難な微小面積の試料も、顕微鏡方式により拡大し、分光反射率・分光透過率の測定を行います。

仕様

VAA-400(日本電色工業社製)
全波長同時補償方式

めっき面の分光反射率・分光透過率を測定

用途

めっき面の光沢度測定
分光反射率・分光透過率の測定

 

 

画像測定器

非接触変位センサーとCCDカメラにより、高速で高精度の二次元・三次元画像による寸法測定が可能です。

仕様 QVH1-X302P1L-C(ミツトヨ社製)

透過・反射式

「画像測定器」
用途 XYZ法測定

めっきエリア自動測定
カット寸法自動測定

 


ソルダーチェッカー

国際規格・国内規格に対応した、はんだのぬれ評価や、サンプル表面の違い(酸化や、メッキ)による、ぬれ性の違いを評価を行います。

仕様

SAT-5100(レスカ社製)
浮力・表面張力測定

はんだ濡れ性の評価「ソルダーチェッカー」
用途  半田濡れ性の評価

 

 

@engineer