メテック株式会社の設備紹介
めっき設備 |
フープライン
フープめっきは、連なったロール状の製品にめっき加工を施す方法で、リール・ツー・リールめっきとも呼ばれています。連続生産できるため、生産性が高く、安定した品質が低コストで提供できます。
対応可能めっき |
Ag(半光沢~超高光沢)、Cu、Sn、Sn-Bi、Sn-Cu、Zn |
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対応可能サイズ | 製品幅15~60mm | |
対応可能素材 | Cu(Cu合金)、Fe、42材 |
シート式・ラック式めっきライン(全面・部分めっき対応)
シート式めっきは、専用の装置で短尺(シート)状のリードフレームを自動搬送し、部分銀・部分金めっきをつけます。半導体リードフレームの少量多品種のめっきに適しています。
ラック式めっきは、「ラック」と呼ばれる治具に製品を引っかけてめっきする方法です。作業効率がよく、試作から大量生産まで対応できます。
対応可能めっき | Au、Ag、Ni、Pd、Su-Bi、Sn-Cu | |
対応可能サイズ | 製品幅20~70mm | |
対応可能素材 | Cu(Cu合金)、Fe、42材 |
バレルライン
バレルめっきは、「バレル」と呼ばれる円筒状の容器に製品を入れ、めっき液の中で回転させながらめっき加工を施す方法です。
テレビ・パソコン・携帯電話などの端子・フレーム・ネジ・ キャップ・スイッチ・リレー部品類へのめっきに対応しています。細かい製品を大量にめっきするときなどに適しています。
対応可能めっき: | Au、Ag、Ni、Cu、Sn、Sn-Bi、Zn、無電解Ni | |
対応可能サイズ: | 応相談 | |
対応可能素材: | Cu(Cu合金)、Fe等 応相談 |
検査設備 |
蛍光X線膜厚計
高感度なX線の微小ビームを用いた膜厚測定機です。より微小な部分を非破壊で高精度に測定でき、特に単層・多層めっき皮膜の膜厚測定で活用されます。
仕様 |
SFT-9200(SIIナノテクノロジー社製) 上面垂直照射方式 |
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用途 |
金属材料上のめっき厚測定 |
蛍光X線分析装置
RoHS・ELV指令でも規制対象になっているカドミウムや鉛、水銀やクロムなどの分析を行います。高感度・高分解能な測定が可能です。
仕様 | SEA1200VX(SIIナノテクノロジー社製) | |
用途 | 製品中に含有される元素の測定 |
微小面分光色差計
測定困難な微小面積の試料も、顕微鏡方式により拡大し、分光反射率・分光透過率の測定を行います。
仕様 |
VAA-400(日本電色工業社製) |
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用途 |
めっき面の光沢度測定 |
画像測定器
非接触変位センサーとCCDカメラにより、高速で高精度の二次元・三次元画像による寸法測定が可能です。
仕様 | QVH1-X302P1L-C(ミツトヨ社製)
透過・反射式 |
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用途 | XYZ法測定
めっきエリア自動測定 |
ソルダーチェッカー
国際規格・国内規格に対応した、はんだのぬれ評価や、サンプル表面の違い(酸化や、メッキ)による、ぬれ性の違いを評価を行います。
仕様 |
SAT-5100(レスカ社製) |
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用途 | 半田濡れ性の評価 |