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計測展2011 TOKYO 出展のお知らせ

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展示会  / 2011年11月09日 /  産業機械機器 試験・分析・測定 先端技術
イベント名 計測展2011 TOKYO
開催期間 2011年11月16日(水) ~ 2011年11月18日(金)
10:00~17:00
会場名 東京国際展示場(東京ビッグサイト)
ブース番号 M-3
会場の住所 東京都江東区有明3-11-1
地図 http://www.bigsight.jp/general/access/index.html

2011年11月16日(水)~18日(金)まで東京ビッグサイトにて開催される、計測展2011 TOKYOに出展します。ナックイメージテクノロジーでは、電気・電子・通信・関連製品/サービスゾーンにて、新製品の500万画素130万コマ/秒の高速度カメラ『MEMRECAM HX-1』をはじめとしたバリエーション豊かなラインナップで展示いたします。

 

ハイスピードカメラを使用すると、肉眼では確認できない高速現象や可視化できない光の波長を捉え、高画質なスローモーション映像で詳細に観察・計測が行えます。会場では最先端の研究・開発、試験・評価の現場における様々なニーズにお応えするラインナップをご紹介します。

 

新製品のMEMRECAM HX-1は、フルHD1920×1080で4,500コマ/秒、1280×720で10,000コマ/秒の高速撮影が行え、高精度な計測が行えます。また、外付最大1TBのメモリを搭載可能、長時間の記録が可能なため、動作時間が長い場合や、現象が不意に発生する場合でも安心です。

 

落下・衝撃試験解析、溶接現象解析、流体解析、三次元歪み解析など、計測から解析までのシステムをお客様のニーズに合わせた形でご提案することができます。

 

ナックでは豊富な撮影経験を活かし、落下・衝撃試験解析、溶接現象解析、流体解析、三次元歪み解析など、計測から解析までのシステムをお客様のニーズに合わせた形でご提案することができます。

納入後も、計測支援や保守などサポート体制も整えているので安心してお任せください。

日常のちょっとした疑問から特注製品の提案まで、お気軽にご相談ください。スタッフ一同ご来場お待ちしております。

 

※事前登録者、招待券持参者のみが無料となります。事前に公式サイトより登録していただくか、お問い合わせボタンより招待券をご請求ください。

 

 

【主な出展機材】

●500万画素超高精細トップエンド・ハイスピードカメラ 「MEMRECAM HX-1」

●落下・衝撃・歪み解析システム

●流体計測(2D/3D)システム

●溶接現象解析システム

●視線計測装置 「EMR-9」

 

参加ポータル
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