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イベント

nac Imaging Solution 2012 開催のお知らせ 【東京】

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セミナー 展示会  / 2012年06月14日 /  産学連携 試験・分析・測定 先端技術
イベント名 nac Imaging Solution 2012
開催期間 2012年07月18日(水) ~ 2012年07月19日(木)
9:30 ~ 18:00
会場名 株式会社ナックイメージテクノロジー 東京本社 1F
会場の住所 東京都港区北青山2-11-3
地図 http://www.nacinc.jp/common/pdf/t-nacmap.pdf
お申し込み期限日 2012年07月10日(火)17時
お申し込み

ナックイメージテクノロジーは、7月13日に大阪、7月18日・19日に東京で「nac Imaging Solution 2012」と題して、最新の映像計測機器と計測技術に関する展示会及び講演会を開催いたします。

会場内では世界最高500万画素の超高精細・高感度ハイスピードカメラ MEMRECAM HX-3 や、世界初3板式センサ方式 フルHDウルトラスローモーションカメラ Hi-Motion2 などの実機展示をはじめ、各分野における映像計測のシステム紹介をいたします。

講演会では各専門分野を牽引していらっしゃる研究者の方々より最新の映像技術を活用した事例についてご紹介いただきます。

 

 ※講演会は事前登録制、先着65名で定員になり次第お申し込み受付終了となります。

 

■ 東京会場 7月18日 (水)

10:00 ~ T-1 東芝ITコントロールシステム 株式会社
富澤 雅美 様
ハイスピードX線イメージング技術とその応用
11:00 ~ T-2 ナックイメージテクノロジー
菊地 章
ハイスピードカメラ開発について
13:30 ~ T-3 ナックイメージテクノロジー
佐々木 裕康
映像計測で何が出来るのか
~高速度カメラによる計測アプリケーション事例紹介~
14:30 ~ T-4

株式会社 小川技研

(元 産業技術総合研究所)
小川 洋司 様

溶接プロセスの撮影とその解析手法
15:30 ~ T-5 出光興産 株式会社
安藤 誠人 様
ポリカーボネート樹脂の衝撃破壊挙動


■ 東京会場 7月19日 (木)

10:00 ~ T-6 ナックイメージテクノロジー
水野 重智

画像計測に必要な光学系の基礎と

特殊光学系について

11:00 ~ T-7 西華産業 株式会社
安木 政史 様
流れの可視化・PIV計測
~高速度カメラによる時系列PIVの有効性~
13:30 ~ T-8 ナックイメージテクノロジー
橋本 隆行
高速度画像の解析技術と事例紹介
14:30 ~ T-9 住友金属工業 株式会社
福井 清之 様
鉄鋼製品を用いた自動車用車体の先進軽量化技術
~高速ビデオ活用による超ハイテン材の実用化促進~
15:30 ~ T-10 ナックイメージテクノロジー
松村 哲
超高速の世界
~超高速度カメラを用いた撮影技術と計測事例紹介~
参加ポータル
航空機産業ポータル
試験・分析.com
産業機械.com