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【好評受付中】 車載デバイス・機器業界必見!信頼性確保のキーポイントはこれだ!  車載機器、車載デバイスの信頼性試験規格の解説と解析

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 / 2018年05月15日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
イベント名 車載機器、車載デバイスの信頼性試験規格の解説と解析
開催期間 2018年06月21日(木)
会場名 富士ソフト アキバプラザ
会場の住所 東京都
お申し込み期限日 2018年06月14日(木)12時
お申し込み

           OKIエンジニアリング主催セミナーのご案内

 

車載機器や電子デバイスにおいて、信頼性確保のために必須となるのが信頼性試験です。IC向けの「AEC-Q100」、ディスクリート向けの「AEC-Q101」、受動部品向けの「AEC-Q200」といった様々な信頼性試験規格があり、多くの自動車メーカーがこれらを採用しています。車載デバイスの信頼性は、自動車の安全性を左右する重要なファクターですので、これらの規格に準拠することが必須です。本セミナーは、車載機器、車載デバイスの信頼性試験を解説しながら、OKIエンジニアリングの誇る信頼性試験関連ソリューションを紹介していきます。
自動車・車載の電子デバイス・使用材料の研究・開発・設計・製造に携わる方々のご参加を心よりお待ちしております。

 

◆主催   沖エンジニアリング株式会社

◆特別協力 株式会社産業タイムズ社

◆日時   2018年6月21日(木)13時00分~17時40分

◆参加費  20,000円+税/1名(テキスト付)

◆定員   55名   定員になり次第、締め切らせていただきます。

           お早めにお申し込みください。

◆会場   富士ソフト アキバプラザ7F プレゼンルーム

◆所在地  〒101-0022 東京都千代田区神田練塀町3

      アクセス詳細はこちら

 

□□□□□□□□□□□□□□□□□ プログラム □□□□□□□□□□□□□□□□□□

12:30~13:00  受付(7F プレゼンルーム前) 

13:00~13:20 「車載電子部品であるマイコンやセンサーの最新技術・市場動向」

         株式会社産業タイムズ社 電子デバイス産業新聞 甕 秀樹様

13:20~14:05 「車載電子部品向け信頼性試験規格AECQ試験に関する解説及び試験方法」

         OKIエンジニアリング デバイス評価事業部 出口 泰

14:05~14:15  休憩(名刺交換+パネル展示)

14:15~15:00 「良品解析に基づく故障の予兆把握と未然防止

          ~実践的な信頼性評価法「LSIプロセス診断」~」

         OKIエンジニアリング 信頼性解析事業部 高森 圭

15:00~15:30 「シロキサン解析事例及び曝露試験手法」

         OKIエンジニアリング 環境事業部 棗田 次郎

15:30~15:40  休憩(名刺交換+パネル展示)

15:40~16:40 「車載部品・製品評価に必要な信頼性/環境試験装置の解説および評価例」

         OKIエンジニアリング システム評価事業部 飯塚 隆元/岡 克己

16:40~16:50  休憩(名刺交換+パネル展示)

16:50~17:40 「IATF16949規格 試験所要求事項に関する解説

         ~計測器の校正とEMC試験 17025試験所対応について ~」

         OKIエンジニアリング EMC事業部 多田 雅則

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