製品・技術

SDDシステム（シリコンドリフトディテクタ）

製品 / 試験・分析・測定先端技術

　●高エネルギー分解能
　●高計数率→入射カウント数＞2×10⁵cps
　●電子冷却→液体チッ素不要
　●T08パッケージ→小型・軽量化

●X線回折・蛍光X線分析
●全反射蛍光X線分析
●放射光を用いた分析
●学校・研究所での基礎実験用
●EPMA
●XAFS

■検出器（SDD）仕様
有効結晶径	7m㎡, 10m㎡，30m㎡, 80m㎡
結晶厚み	450μm
検出器ハウジング	T08
入射窓	8μmBe/特殊高分子膜
コリメータ	Zr/Pd
冷却システム	ペルチェ素子
温度制御範囲	～-35℃ 室温25℃
温度モニタ付	有り
■計数回路（ＤＳＰ）仕様
デジタルシグナルプロセッサはメインアンプ（パルスプロセッサ）とＭＣＡが一枚の基板にまとめられたコンパクト・高性能型
ピーキングタイム	0.5～75μsec
ハードウェアメモリ領域	2000ch～8000ch
ゲインコントロール付	有り
パイルアップリジェクションレベル付	有り
使用条件	温度：0～25℃ 　湿度：20～80％　電源：AC100V±10%、2A 　接地：第3種接地　※液体窒素は不要
構成	SDDユニット、DSPユニット、電源コントローラーユニット、付属品