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分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験 株式会社クオルテック

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 Total Quality Solution Service イメージ

空気を浄化する車。土に還るスマートフォン。

 『未来品質』の製品をクオルテックが支えます。

 

 クオルテックは、製造現場の技術指導や品質改善コンサルティングから、その事業を開始しました。現在では、分析・故障解析、信頼性評価、試料作製やレーザ加工が中心となっておりますが、創業時の理念を継承し「お客様の課題解決」こそ、我々の使命と考えております。そのため、分析だけに止まらない、再現実験による原因究明と改善提案を最も大切にしています。 また、表面処理や実装技術など複数のテーマにおいて、新材料や新工法の研究開発を行っており、ここで蓄積された知見が、お客様への改善提案にも活かされています。

 分析、評価から研究開発まで、お客様のあらゆる課題をワンストップで解決する『トータル・クオリティ・ソリューション』を提供しています。 

 

 ▼コーポレートムービー

 

 

よくある試験・分析のご依頼

車載用パワーデバイスの耐久性を評価したい…

パワーサイクル試験など信頼性試験の実績豊富!詳細はこちら

パワーサイクル試験機を開発しました詳細はこちら

車載用の大型電子部品、機構部品について、設計精度、破損状況を調べたい…

切断、断面研磨技術によって部品構造の観察、解析を短納期で行います

部品・材料の不具合・不良原因を解明したい…

原因の解析だけでなく、改善のご提案までお任せください

JNLA(工業標準化法試験事業者)認定企業、ISO 17025取得

各種試験のデータを正確に、スピーディーに提供します

 

 

対応可能な信頼性評価/分析・解析

信頼性試験

パワーサイクル試験

連続通電試験

塩水噴霧試験、塵埃試験

高電圧マイグレーション試験

振動試験

高温(恒湿)逆バイアス試験

耐候性試験など

詳細はこちら

試料作製

FIB(Focused Ion Beam)

断面

平面研磨

イオンミリング

ミクロトーム

CP・冷間CP

ICパッケージ開封

詳細はこちら

故障解析・良品解析

発熱解析(ELITE)

超音波顕微鏡観察(C-SAM)

X線透視観察

X線CT

STEM(走査型/透過電子顕微鏡)

FE-SEM

XPS・AES複合機

詳細はこちら

基板評価

酸化膜厚測定(SERA法)

ホットオイル試験

マイクロビッカース硬さ測定

実装実験

詳細はこちら

理化学分析

SEM観察装置
 (二次電子顕微鏡観察装置)

EBSD(電子線後方散乱回折装置)

FT-IR分析装置
 (フーリエ変換型赤外分光分析装置)

GC-MS (ガスクロマトグラフ-
 質量分析装置)

詳細はこちら

生化学分析

遺伝子検査

アレルゲン検査

質量分析

詳細はこちら

そのほかの試験・分析についても、お気軽にお問い合わせください。

 

 

貴社の研究開発をお手伝いします!

研究開発イメージ画像市場ニーズを積極的に取り入れ、
独自に新工法・新素材を開発

クオルテックでは、実装技術や表面処理分野での受託研究など、研究開発の支援も行っています。

大学・公的研究機関や同業他社との幅広いネットワークを駆使し、お客様の研究開発の進化・スピードの飛躍的向上に寄与します。

>> 研究開発の詳細はこちら

 

試験設備のご紹介

新たに試験設備を導入しました! 

複合振動試験機(IMV A30)

 

 

既存の試験機では不可能だった【100G-11ms】の衝撃試験が可能となりました。

振動試験機を合計4台所有しているので、スピーディーな対応が可能です。

プラズマFIB-SEM

 

 

Xeを用いたプラズマFIBなので、従来と比べて大面積の加工が可能となります。3Dパッケージの故障解析や、広い領域のFIB加工や観察など様々なニーズに対応することが可能です。

ロックイン発熱解析装置

 

FEI社「ELITE」を導入。高感度赤外線カメラと独自のロックイン技術を用い、半導体素子やパッケージ、実装基板、電子モジュール内で発生する不良部位を非破壊で短時間に特定できます。

超音波顕微鏡

超音波顕微鏡

 

最新鋭機種「Gen6」を導入。従来モデルに比べ、多層構造の材料評価が可能となりました。

高分解能X線CT

X戦CT

400万画素、16ビット(56000諧調)フラットパネルの鮮明な画像により、物体・材料内部の破壊や劣化を非破壊で評価可能です。

XPS/AES複合機

XPS/AES複合機

「PHI5000VersaProveⅢ」を導入。
SEM/EDS分析では難しかった試料最表面数ナノメートルの厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。 

IB-19510CP 断面試料作製装置

 

高速&仕上げ加工の搭載により高スループットと高い断面品質を実現します。

クライオCP装置

 

クライオCP装置

冷却機能つきCP装置。
熱に弱い物質や熱変成が考えられる物質の断面試料作成が可能です。

>> そのほかの保有設備はこちら

イベント

  • 無償WEBセミナー開催のお知らせ ~ 米国TSCA PBT 5物質対応と分析サービスのご紹介 ~

     / 2021年10月18日 /  環境 試験・分析・測定
    イベント名 無償WEBセミナー「米国TSCA PBT 5物質対応と分析サービスのご紹介」
    開催期間 2021年11月05日(金)
    13:30~15:00
    会場名 WEBセミナー
    会場の住所 大阪府※セミナー会場での開催はありません

    この度、SGSクオルテックのWEBサイトを開設いたしました。その記念といたしまして、下記内容にて無償WEBセミナーを開催いたします。是非ご参加下さい。■ セミナー概要 ■米国TSCA において、新たに5つの物質の規制…
  • 「マイクロウェーブ展2018」に最新技術を出展

     / 2018年11月26日 /  鉄/非鉄金属 電子・半導体 光学機器
    イベント名 マイクロウェーブ展2018
    開催期間 2018年11月28日(水) ~ 2018年11月30日(金)
    11月28日(水)~29日(木)10:00〜17:30、30日(金)10:00〜17:00
    会場名 パシフィコ横浜 展示ホール
    ブース番号 D-14
    会場の住所 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1
    地図 http://www.pacifico.co.jp/visitor/access/tabid/236/Default.aspx

    クオルテックは、11月28日(水)~11月30日(金)に、パシフィコ横浜で開催される「マイクロウェーブ展2018」に出展します。 同展示会はマイクロ波技術関連の学術・産業・教育に関する国内最大規模の展示会。昨年の…
  • 『人とくるまのテクノロジー展2018横浜』に出展

     / 2018年03月29日 /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    イベント名 人とくるまのテクノロジー展2018横浜
    開催期間 2018年05月23日(水) ~ 2018年05月25日(金)
    5月23日(水)~24日(木)10:00~18:00、25日(金)10:00~17:00
    会場名 パシフィコ横浜 展示ホール
    ブース番号 小間番号27
    会場の住所 神奈川県神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1
    地図 http://www.pacifico.co.jp/visitor/access/tabid/236/Default.aspx

    クオルテックは、5月23日(水)~25日(金)にパシフィコ横浜で開催される「人とくるまのテクノロジー展2018横浜」に出展します。同展示会は、自動車業界の第一線で活躍する技術者・研究者のための自動車技術の専門展で…

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