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分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験 株式会社クオルテック
製品・技術

再現実験

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分析・解析  /  電子・半導体 試験・分析・測定 先端技術

再現実験 故障・不具合発生の原因究明と問題解決のためには、正確な分析データと正解を実証する再現実験が不可欠です。

同じ故障・不具合が発生するまで分析と再現実験を繰り返し、真の意味での現場改善・問題解決をご提供します。

 

 

再現実験の主な事例

  ソルダレジスト弾き

成分分析ではレジストの検出が強く特定できない場合が多いため、レジスト塗布前後に水や溶剤などを付着し、レジスト弾きの発生について再現実験を実施。

 

 

  Snめっき濡れ不良

Snめっきサンプルにはんだ付けを実施した際に下地Cu表面ではんだ弾きが発生。
前処理・めっき厚・リフロー条件・環境試験条件を変えたサンプルをはんだ付けし、はんだ濡れ不良の再現実験を実施。

 

 

    焼損実験 

近年、部品・モジュールの軽薄短小化に加え、自動車業界ではEV/PHVなどで高電圧・大電流となり、ますます基板の信頼性設計が大切になってきています。

パターン間ショートや基板焼損の発生リスクも高まると考え、パターン間ショートでの基板焼損について再現実験を実施しました。

▶︎クオルテック公式サイト 「焼損再現実験」

 

 

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