【有機EL研究】有機材料、発光素子、薄膜／半導体の測定、分析装置を導入｡

有機材料､発光素子､薄膜･半導体の測定､分析装置を導入しました｡

非接触･非破壊で､仕事関数､イオン化ポテンシャル､バンドギャップ､透過･吸収波長､蛍光発光特性､膜厚･光学定数を計測できます｡

① 顕微反射分光膜厚計

・非接触・非破壊・顕微で測定時間１秒！
・ターゲット膜の絶対反射率を測定し膜厚と光学定数を

   精度良く計測！

■ 特　徴

・顕微分光で高精度な絶対反射率測定（多層膜厚、光学定数）
・1ポイント1秒以内の高速測定
・顕微下で広い測定波長範囲を実現する光学系（紫外～近赤外）

■ 仕　様

・メーカー：大塚電子（株）　　 ・測定時間：1秒/1ポイント

・品番：OPTM-F1　   　　　　  ・測定膜厚：1nm～35μm

・測定波長：230-800nm　　　  ・膜厚精度：0.1nm

・スポット径：10μm

② 光電子分光装置

・非接触・非破壊で仕事関数、イオン化ポテンシャルを測定｡
・半導体やリードフレームの表面酸化状態を測定｡ 

・サンプル表面の薄膜・分子レベルの膜状汚染を検知｡

■ 特　徴

・大気中で測定を行うため、最大50mm角を測定できます。
・光電子のため分子レベルの表面被膜の情報を検知できます。
・仕事関数、イオン化ポテンシャルを5分で測定できます｡

■ 仕　様

・メーカー：理研計器（株）　　 ・紫外線ランプ：重水素ランプ

・品番：AC-2　   　　　　  　　・スポットサイズ：2～4mm

・検知範囲：3.4～6.2eV　　　  ・サンプルサイズ：50mm角

・繰り返し精度：0.02eV

③ 分光蛍光光度計

・励起光の吸収性の測定｡
・蛍光の発光特性､発光色の測定｡

・りん光強度の時間変化､りん光寿命の測定｡

■ 特　徴

・最高S/N 300以上
・検出感度を自動的に調整するオートゲイン機能搭載
・自動高次光カットフィルタ標準搭載
・1msecのりん光寿命測定可能

■ 仕　様

・メーカー：日本分光（株）　　 　・光源：150W　Xeランプ

・品番：FP-8500DS　   　　　　  ・波長移動：60,000nm/min

・測定波長範囲：200～850nm　   ・3次元測定時間：5min以内

・分解能：1.0nm

④ 紫外可視近赤外分光光度計

・透過･吸収波長の測定｡
・絶対反射率波長の測定｡

・バンドギャップの測定｡

・拡散反射､拡散透過の測定｡

■ 特　徴

・測定波長範囲全域に渡り、広いダイナミックレンジを実現
・シングルモノクロメータの高効率な明るい光学系

■ 仕　様

・メーカー：日本分光（株）　　 　・波長精度：0.2nm

・品番：V-750DS   　　　　  　　 ・光源：重水素、ハロゲンランプ

・測定波長範囲：190～900nm　   ・検出器：光電子増倍管