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XPSとは、X線光電子分光を表し、AESとはオージェ電子分光を表します。SEM/EDS分析では、難しかった試料最表面(情報深さ0.5~6nm)の厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。XPS:有機・無機の表…
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■概 要 超音波切断機とは、従来の回転式の切断ブレードに超音波振動を加えながら切断を行う装置です。断面観察を必要とする試料の必要な位置を高精度で切ると共に、Polish Cut効果で「切る」「磨く」を同時に行い、…
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3Dパッケージの故障解析や、広い領域のFIB加工や観察など様々なニーズに対応します。Xeを用いたプラズマFIBなので、従来と比べて短時間で大面積(最大500μm幅)の加工が可能。また、FE-SEMを搭載しており、断面像の…
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■概 要耐候性試験は太陽光、温湿度、降雨、結露などの屋外または屋内の劣化因子を人工的に再現し、その環境に暴露した製品、材料の劣化を加速促進させる試験です。キセノンアークランプは試験材料を自然太陽光に暴…
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■概 要 ガスをカラム中に通し、カラム内を通過する時間で分離するGC(ガスクロマトグラフ)に、試料の分子量を検出するMS(マススペクトロメトリー)を検出器として使用する装置です。 液体や固体試料からのガス化成分…
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X線透視観察では、物質の内部構造を非破壊で観察できます。非破壊検査の中で最も代表的なものが、このX線顕微鏡を使った透過観察です。クオルテックで使用しているX線顕微鏡は、重さ5kg、幅440mm×長さ500mm×高さ1…
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■概 要 HPLC で分離された溶出成分はインターフェースでイオン化され、MS/MSに導入されます。イオン化法には、エレクトロスプレーイオン化法(ESI)、大気圧化学イオン化法(APCO)、デュアルイオンソース(DUIS)があり…
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物質を透過する超音波の音響インピーダンスの差を利用して、物質中のボイドなどを非破壊で観察する手法です。Sonoscan社の最新モデルであるGen6を導入。異なる深さの複数層の同時スキャン可能(最大100層)。最大走…
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■概 要耐候性試験は太陽光、温湿度、降雨、結露などの屋外または屋内の劣化因子を人工的に再現し、その環境に暴露した製品、材料の劣化を加速促進させる試験です。キセノンアークランプは試験材料を自然太陽光に暴…
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■概 要 自動車部品の信頼性は非常に高い水準が要求されており、実際の部品をさまざまな環境因子を想定した条件にて信頼性試験を実施する傾向にあります。例えば自動車の底面に装着されるセンサーやハーネス類は、路…
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走査透過電子顕微鏡(STEM)はFIBなどで薄片化した試料に電子ビームを照射し、試料を透過してきた電子情報を捉え、原子・分子像を直接観察可能なレベルでの高倍率・高分解能観察が可能な装置です。走査透過電子顕微…
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CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており物体を走査(scan)することからX線CTスキャンと呼ばれています。特徴としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を行うこ…
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■概 要 塩水を一定量、一定間隔にて滴下し、腐食やマイグレーションの状況を確認する試験です。同時に電圧を印加して試験を行うことにより、短絡電流による発火・発煙・燃焼の有無を確認することも可能です。 ■試…
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温度だけでなく湿度も一定に保ったまま槽内で長時間の通電による特性劣化の変動を評価したり、マイグレーションやウィスカの加速評価等を行う試験です。
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帯電した導電性の物体が他の導電性の物体に接触し、あるいは充分に接近すると、激しい放電が発生します。この現象はESD(electro-static discharge:静電気放電)と呼ばれ、誤動作や損傷などの問題を引き起こすこと…
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■概 要 温度サイクル試験は、外部環境及び自己発熱による温度が繰り返し変化する状況を想定し、熱ストレスを与えて耐性を確認する試験です。 ■詳細 急速温度変化チャンバー(ESPEC製 HRS-306M)では、温度勾配が10…
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■概 要 材料は繰返し応力を受けると静的な引張強さや降伏応力よりも小さい力で破壊に至ります。疲労試験では繰り返しの試験力や変位を与え、製品の疲労寿命や耐久性を評価します。 ■特 徴 電磁力式アクチュエータ…
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■HAST(不飽和加圧蒸気試験)電子部品の信頼性試験(評価)に採用されたもので、デバイスに温度と湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法がとられており、並列複合試験の代表的な試験方法です。■…
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低温と高温の間を一定間隔で移動する最も標準的なサイクル試験です。信頼性試験としてこの試験を行った場合は、試験後、外観、めっきスルーホールまたは内層接続の導通抵抗値を測定し、抵抗変化率は10%以下であるこ…
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