事例
■概 要
SEM/EDS分析では難しかった試料最表面数ナノメートルの厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。
● 試料最表面の分析が可能(情報深さ0.5～6nm)
● XPS:有機・無機の表面分析/化学状態分析(X線)
● AES:無機の微小部(<100nm)元素分析(電子線)
実際の分析時と同じX線で励起された光電子像を用いるため、正確な分析位置の特定・確認を短時間で行なうことができます。
■事例紹介
《はんだ濡れ不良の解析例》
はんだが正常に濡れたものとはじきが見られたもので、表面の元素組成が異なっていることをXPSで確認。
その他の観察事例はこちらをご覧
【このページの関連ページ】
- サイト内検索
- クオルテック公式サイト
- 新着ページ
-
- 基板の実装不良における様々な観察事例②（基板要因） (2024年04月16日)
- 車載部品における、耐油・耐薬品性能の試験方法をご提案します。 (2024年04月02日)
- 高温と低温の液媒体へ浸漬を繰り返し、急激な温度変化を与える「液槽冷熱衝撃試験」 (2024年03月19日)
- ガラス材の内部にレーザ加工する事により、表面に凹凸のないマーキングが可能です。 (2024年03月05日)
- CP加工（イオンミリング）による超精密試料 (2024年03月04日)
