「分析・解析」一覧
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「分析・解析」に関するページ
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高感度赤外線カメラと独自のロックイン技術を用い、半導体素子やパッケージ、実装基板、電子モジュール内で発生する不良部位を非破壊で短時間に特定できます。 ■概 要発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ…
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■概 要材料内部の剥離や空隙を非破壊で評価することが可能な分析装置です。超音波を評価対象物に照射し、その反射の状態を計測する事で物質の界面部分の情報を精度良く抽出でき、半導体だけでなくさまざまな物質の…
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■概 要 ガスをカラム中に通し、カラム内を通過する時間で分離するGC(ガスクロマトグラフ)に、試料の分子量を検出するMS(マススペクトロメトリー)を検出器として使用する装置です。 液体や固体試料からのガス化成分…
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■概 要 HPLC で分離された溶出成分はインターフェースでイオン化され、MS/MSに導入されます。イオン化法には、エレクトロスプレーイオン化法(ESI)、大気圧化学イオン化法(APCO)、デュアルイオンソース(DUIS)があり…
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■概 要 高温と圧力を加えることで、密着性の高い試料作成ができます。金属部品などの評価サンプル作製では、短時間(約30分ほど)で試料を作製します。 ■設備紹介 ■メーカ：ハルツォク・ジャパン■型 番：エコプレ…
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■概 要 SEM/EDS分析では難しかった試料最表面数ナノメートルの厚み領域における元素分析・化学状態分析が可能となります。 ■特 徴● 試料最表面の分析が可能(情報深さ0.5～6nm)● XPS:有機・無機の表面分析/化学…
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■概 要 バンドソーは、細長い輪状の平らな刃を回転しながら切断するという構造となっています。また、金属バンドソーは、金属を切断できる工具の中では安全(火花がでない)で、切断環境を選ばないという利点がありま…
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■概 要 3Dパッケージの故障解析や、広い領域のFIB加工や観察など様々なニーズに対応することが可能です。 ■特 徴 1) Xeを用いたプラズマFIBなので、大面積の加工が可能。プラズマFIBなので短時間に大面積の加工…
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■概 要 CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており物体を走査(scan)することからX線CTスキャンと呼ばれています。 特徴としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理…
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金属産業新聞に自社開発のめっき液「クオルニック」の記事が掲載されました
2018年1月15日発行の金属産業新聞に、自社開発の高耐食性無電解Ni-Pめっき液「クオルニック」の記事が掲載されました。「クオルニック」は各種耐酸性に優れる自社開発のNi-Pめっき液で、スーパーステンレスをも上回… -
イベント名 機能性コーティングフェア2017 開催期間 2017年12月05日（火）
10:00-17:30会場名 マイドームおおさか2F、3F ブース番号 63 会場の住所 大阪府大阪市中央区本町橋2番5号
「機能性コーティングフェア2017」に出展 株式会社クオルテックは、12月5日(火)にマイドームおおさかで開催される「機能性コーティングフェア2017」に出展します。同展示会は、ものづくりには欠かせない「コーティン… -
【二次電池】世界一広い電位窓を持つ水系キャパシタ（Qualtec Hydro-Capacitor）
■概 要 キャパシタの電解液として、水溶液は、電気化学的特性と安全性において、非水溶媒より遥かに優れています。問題は水溶液における狭い電位窓(水の分解電位)で、これまで2.2V程度が上限でした。そのため、水系… -
■概 要STEMはFIBなどで薄片化した試料に電子ビームを照射し、試料を透過してきた電子情報を捉え、原子・分子像を直接観察可能なレベルでの高倍率・高分解能観察が可能な装置です。TEMは電子ビームを試料通過後に結…
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CP加工（イオンミリング）による超精密試料を、お手頃価格でご提供。
■背 景走査電子顕微鏡による数千倍以上の断面観察や、EDS及びWDS等による微小調査のニーズが高まりつつある昨今。イオンミリング法に基づいた断面加工装置「CP（クロスセクションポリッシャ）」は、機械研磨では難… -
ボンディング性評価のためのシリコンエッチング技術 IC等におけるワイヤーボンディング部の接合状態を正しく評価するためには、接合面での金属間化合物の生成状態を観察する必要があります。金属間化合物の面積が大…
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試験装置：ペースト材料連続印刷テスト装置「テクノスTQ-1100」
ペースト材料連続印刷テスト装置「テクノスTQ-1100」 恒温恒湿層の中にも置けるコンパクトサイズのペースト材料の連続印刷特性試験機です。●現場の印刷機を使用することなく、連続印刷性を評価できます。●他の連続… -
EBSD（電子線後方散乱回折法）分析とは ①EBSD分析についてSEM（走査電子顕微鏡）と組み合わせて、試料表面で生じる電子線後方散乱回析により金属など結晶性材料の結晶方位・粒径・歪み分布などに関する情報を取得す…
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市場や生産工程で発生した製品の不良・不具合や異物の混入など、もの作りにおいて製品トラブルは必ず発生し、不良対策を施すことは必須となっています。 クオルテックでは各種分析機器を用いて、製品の材料や表面・…
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故障・不具合発生の原因究明と問題解決のためには、正確な分析データと正解を実証する再現実験が不可欠です。同じ故障・不具合が発生するまで分析と再現実験を繰り返し、真の意味での現場改善・問題解決をご提供しま…
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「食の安心」を支える食品分析技術。迅速かつ正確な情報提供により、豊かな食生活を守ります。食品中のアレルゲン検査に関しては、消費者庁による公定法「アレルギー物質を含む食品の検査方法について」に則っとった…
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