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2/28【セミナー】FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック

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分析、試験、測定、評価  / 2017年10月12日 /  化学・樹脂 試験・分析・測定
イベント名 FT-IR測定・同定の実際とアプリケーションテクニック
開催期間 2018年02月28日(水)
10:30~16:30
会場名 品川区大井町 きゅりあん 5階 第4講習室
会場の住所 東京都
地図 http://www.science-t.com/st/cont/id/16431
お申し込み期限日 2018年02月27日(火)16時
お申し込み受付人数 30  名様
お申し込み

"論より実践"の赤外分光法 完全マスター講座

文献や教科書にも載っていない実務的なノウハウ・テクニックを教えます。FT-IR(フーリエ変換赤外分光法)の実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説!

 

講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏

 

 受講料(税込)

 

48,600円(本体45,000円+税3,600円) ※資料・昼食付

キャンペーン!2名同時申込みで1名分無料(1名あたり定価半額の24,300円)
 

 受講によって得られる知識・ノウハウ

・赤外分光法の各種測定法
・アタッチメント特徴と測定技術
・様々な試料・目的に合わせた測定法
・スペクトル処理・解釈の考え方
・混合物解析の実際の手順
・赤外分光法を用いた問題解決の手順

 

 趣旨

 赤外分光法は、その特徴からも主に有機化合物の化学構造や高次構造の解析手段として研究、開発され、今日では研究・開発だけでなく工場でのインライン評価などにも幅広く一般に使用されている。近年になって、ATR法を初めとした様々な測定法の開発や装置の改良等によって、従来困難であったような試料も容易に測定が可能となり、今日においてはなくてはならない基本的な測定手法としてその地位を確立している。
 しかし、実際のサンプルや問題に直面した場合、どのように測定・解析を行っていけば良いかは依然重要である。しかし残念ながら、文献・教科書等では装置や測定法の原理は詳細に解説してあるものが多いが、そのアプリケーションとしての解説を十分に行っているものは少ない。
 本講座は、赤外分光法の詳細で専門的な原理ではなく、よりアプリケーション寄りの内容、実務での赤外分光法活用を中心とした。実際の分析操作やスペクトルの解釈、実際の分析において対象とすることの多い異物や混合物、様々な試料や目的への対応の方法、事例などについて、実務使用における測定技術や応用技術、ノウハウを解説する。

 

 プログラム

1.赤外分光法の基本原理と特徴
 1.1 赤外分光が見ているもの
 1.2 分光分析における吸収の定義
 1.3 赤外分光の波長領域
 1.4 振動モード
 1.5 気体と液体・固体
 1.6 赤外分光法発展の歴史
 1.7 赤外分光法の長所・短所
 1.8 主な検出器と特徴
2.代表的な測定法
 2.1 透過法
 2.2  全反射法(ATR)
  2.2.1 ATR法のバリエーション
  2.2.2 ATR結晶(IRE)の特性
  2.2.3 FTIR-ATRにおける測定深さ
  2.2.4 ATR法における注意点
  2.2.5 ATR補正
  2.2.6 異常分散によるスペクトルへの影響
  2.2.7 様々なATRアタッチメント
  2.2.8 毒劇物としてのATR結晶(IRE)
 2.3 反射法
 2.4 拡散反射法
 2.5 光音響分光法(PAS)
 2.6 ガスセル
 2.7 主な測定法のまとめ
 2.8 顕微赤外
 2.9 ラマン分光法との対比
3.赤外スペクトル
 3.1 赤外スペクトルの概要
 3.2 主な吸収帯
 3.3 指紋領域の利用
 3.4 カルボニル基の判別
 3.5 スペクトルサーチ
 3.6 スペクトルデータベース
 3.7 代表的検索アルゴリズム
 3.8 検索アルゴリズムの限界
 3.9 ヒットスコアの罠
 3.10 検索結果の間違い例
 3.11 スペクトルサーチのコツ
 3.12 差スペクトル
 3.13 混合解析
 3.14 オープンライブラリ
 3.15 系統分析
 3.16 帰属の考え方
4.定量分析
 4.1 検量線法
 4.2 ピーク強度比法
 4.3 内標準法
 4.4 誤差要因
5.大気成分補正
6.測定条件
7.スペクトル処理

 7.1 ベースライン補正
 7.2 スムージング・補間
 7.3 ベースライン(ピーク強度)
 7.4 ピーク高さと面積
 7.5 自動処理の注意点
8.混合物の解析
9.様々な試料

 9.1 バルク
 9.2 フィルム
 9.3 紛体
 9.4 液体
 9.5 異物・微小部
 9.6 繊維
 9.7 汚染・付着物
 9.8 黒色試料
10.高次構造
11.結晶解析
12.融解
13.配向
14.水素結合
15.バルク(全体平均)分析
16.表面分析
17.深さ方向分析

 17.1 断面の利用
 17.2 精密斜め切削法
 17.3 傾斜面の例
 17.4 研磨法
 17.5 角度変化法
18. 温度変化測定
19. FTIRにおける注意点

 19.1 ATRにおける異常分散
 19.2 ATRにおける試料変形の影響
 19.3 ATRにおける試料の置き方の影響
 19.4 ATRにおける押し圧の影響
 19.5 KBrと試料との反応
 19.6 KBr錠剤法の粉砕粒度の影響
 19.7 表面研磨、偏光と試料傾斜による干渉縞抑制
 19.8 プレスホルダーによる干渉縞抑制
20.事例
 20.1 フィルム上汚染
 20.2 UV表面処理による構造変化の深さ方向解析
 20.3 UV照射によるオレフィンの構造変化
 20.4 UV照射による添加剤入りPVCの構造変化
 20.5 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 20.6 Pi/Cu/Si界面の解析
 20.7 時間分解測定
21.仮説思考による研究開発と問題解決
22.質疑応答

 

 

━━━━━━━━━━━◆2名同時申込みキャンペーンについて◆━━━━━━━━━━━

≪お申し込み方法≫

 お申し込みページ一番上の連絡事項欄に「2名同時申込み」希望の旨と、

 2人目の受講者様の情報(お名前・メールアドレスは必須)をご入力ください。

 住所等が申込者様と同一の場合は、省略いただいて結構です。

・2名様ともS&T会員登録をしていただいた場合に限ります。詳細は別途ご連絡いたします。

・同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。

・3名様以上でお申込みの場合、3人目以降は定価の半額で受講できます。

・受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。

・請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。ご希望の場合はお知らせください。

・他の割引は併用できません。

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○お申し込み後、サイエンス&テクノロジーより確認のご連絡を差し上げます。

○受講料は銀行振込、または当日会場にて現金でお支払いください。

○お申込み後、ご都合が悪くなった場合は代理の方のご出席も可能です。

やむなくキャンセルされる場合は、下記のキャンセル規定で承ります。

◇キャンセル規定◇

開催日から逆算(営業日:土日・祝祭日等を除く)いたしまして、

・開催7日前以前でのキャンセル: キャンセル料はいただきません

・開催3~6日前でのキャンセル: 受講料の70%

・開催当日~2日前でのキャンセル・欠席: 受講料の100%

※受講料入金後での7日前以前のキャンセルについて、返金の手続きが発生した場合

の振込手数料はお客様負担とさせていただきます。

※2名同時1名無料キャンペーン適用で「1名のみキャンセル」の場合は、

キャンセル料は発生いたしません。

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※お申し込み詳細についてはQ&Aにも掲載しております。

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