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3/15【セミナー】分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック

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分析、試験、測定、評価  / 2017年10月12日 /  化学・樹脂 試験・分析・測定
イベント名 分析におけるスペクトル解析の基本と応用テクニック
開催期間 2018年03月15日(木)
10:30~16:30
会場名 品川区大井町 きゅりあん 5階 第1講習室
会場の住所 東京都
地図 http://www.science-t.com/st/cont/id/16431
お申し込み期限日 2018年03月14日(水)16時
お申し込み受付人数 30  名様
お申し込み

"論より実践"の赤外分光法 完全マスター講座

X線光電子分光法(XPS、ESCA)、フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)等におけるスペクトル解析をまとめて解説!基本的な考え方から前処理、同定や解析方法まで、実際の様々な事例を交えて詳説します。

 

講師

ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 氏

 

 受講料(税込)

 

48,600円(本体45,000円+税3,600円) ※資料・昼食付

キャンペーン!2名同時申込みで1名分無料(1名あたり定価半額の24,300円)
 

 受講によって得られる知識・ノウハウ

・スペクトル解析の基礎から応用解析までの考え方から実際の応用まで
・スペクトル解析の基礎から応用、実践
・スペクトルの正しい解釈(定性・定量)とそのためのデータ処理
・良いスペクトルを得るコツ、ノウハウ
・潜在情報を引き出す応用解析法
・データベースの利用方法

 

 趣旨

 FTIRやXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。しかし、近年の技術進歩で誰でも簡便にスペクトルを取得できる、場合によっては装置導入日に教科書に出ているようなきれいなスペクトルを得られることも少なくない。
 言うまでもなく、スペクトルは得られれば目的が達成できるわけではなく、解析して初めて必要な情報を得て問題解決、目的達成をすることができる。また、その解析に用いることができるスペクトルであるかということを判断することも重要である。しかし、装置の進歩だけでなく、コンピューターやソフトの進歩もあり、現在では解析も多くの部分が自動化、ブラックボックス化されている。そのため、間違った結論が導かれてしまっているケースが少なくない。
 本講では、スペクトル解析の基本的な考え方から、前処理、同定や定量から数学的アプローチなどの解析、実際の様々な事例や手法による分析例などを詳細に解説する。

 

 プログラム

 

1.スペクトル解析の基本
 1.1 データの信頼性
 1.2 分析の基本フロー
 1.3 正確なデータを得るために
 1.4 AccuracyとPrecision
 1.5 信頼度要因を整理する
 1.6 横軸、縦軸の意味
 1.7 基本ピーク形状
 1.8 半値幅の持つ意味
 1.9 ピーク変化(位置、半値幅)の意味
 1.10 スペクトル解析の分類
 1.11 スペクトルから構造・状態へ
 1.12 ピーク? ノイズ?
 1.13 動的に全体を見る
2.スペクトルの前処理
 2.1 データ前処理
  2.1.1 スペクトル前処理の分類
  2.1.2 ベースライン補正
  2.1.3 スムージング
  2.1.4 補間
  2.1.5 微分
  2.1.6 対数化
  2.1.7 平均化
  2.1.8 ノーマライズ、規格化(レンジスケール)
  2.1.9 自動処理の注意点
  2.1.10 最も重要なこと
 2.2 解析的前処理(FTIRを例に)
  2.2.1 大気成分(CO2、H2O)補正
  2.2.2 ATR補正
  2.2.3 K-K変換、K-M(Kubelka-Munk)変換
  2.2.4 注意点
3.スペクトルの解析(同定・定性)
 3.1 同定と定性
 3.2 ピーク帰属
 3.3 複数ピークの併用
 3.4 スペクトルパターン
 3.5 ピーク帰属の裏ポイント
 3.6 スペクトルデータベース
 3.7 代表的検索アルゴリズム
 3.8 ヒットスコアの罠
 3.9 スペクトルサーチのコツ
 3.10 差スペクトル
 3.11 混合解析
 3.12 オープンライブラリ
4.スペクトルの解析(定量)
 4.1 ピーク高さと面積
 4.2 ベースラインの引き方
 4.3 ピーク分離
 4.4 ピーク分離における条件設定
 4.5 検量線法による定量
 4.6 定量値に対する影響要因
 4.7 限界の定義を理解する
 4.8 変動要因の軽減
5.スペクトルの解析(数学的アプローチによる物理意味の導出)
 5.1 相関解析
 5.2 相関解析の注意点
 5.3 多変量解析
 5.4 予測と要約
 5.5 多変量解析の応用
 5.6 本来のスペクトル解析
6.各種測定法の例
 6.1 角度変化法
 6.2 角度変化法の注意点
 6.3 マッピングと多変量解析(PCA等)
 6.4 マススペクトル
7.実例
 7.1 X線光電子分光法(XPS、ESCA)
  7.1.1 ワイドスキャン(サーベイスキャン)
  7.1.2 ナロースキャン(代表的な元素)
  7.1.3 元素同定
  7.1.4 化学状態の同定
  7.1.5 定量評価
  7.1.6 XPSにおけるベースラインの選択
  7.1.7 オージェピークの利用
  7.1.8 サテライトピークの利用
  7.1.9 価電子帯の利用
  7.1.10 角度変化測定による深さ方向分析
 7.2 フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)
  7.2.1 赤外分光法(IR)の原理
  7.2.2 FT-IRの長所・短所
  7.2.3 測定法
  7.2.4 吸光度スペクトルと透過スペクトル
  7.2.5 主な吸収帯
  7.2.6 周辺環境の影響
  7.2.7 赤外分光の構造敏感性
  7.2.8 指紋領域の利用
  7.2.9 系統分析
  7.2.10 帰属の考え方
  7.2.11 異常分散によるスペクトルへの影響
  7.2.12 ATR適用の注意点と対策
  7.2.13 ピーク強度比法
  7.2.14 誤差要因
  7.2.15 配向図
  7.2.16 差スペクトルが上手くいかない?
  7.2.17 高度な構造解析
 7.3 ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析
 7.4 ラマン分光法
  7.4.1 ラマン散乱
  7.4.2 ラマン散乱と赤外吸収
  7.4.3 レーザー波長と散乱強度
  7.4.4 ラマンスペクトル
  7.4.5 ラマンスペクトルの解析
  7.4.6 ラマンイメージング
 7.5 飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)
  7.5.1 TOF-SIMSの概要
  7.5.2 TOFにおけるマススペクトル解析
8.仮説思考による研究開発と問題解決
9.まとめ・質疑応答

 

 

━━━━━━━━━━━◆2名同時申込みキャンペーンについて◆━━━━━━━━━━━

≪お申し込み方法≫

 お申し込みページ一番上の連絡事項欄に「2名同時申込み」希望の旨と、

 2人目の受講者様の情報(お名前・メールアドレスは必須)をご入力ください。

 住所等が申込者様と同一の場合は、省略いただいて結構です。

・2名様ともS&T会員登録をしていただいた場合に限ります。詳細は別途ご連絡いたします。

・同一法人内(グループ会社でも可)による2名同時申込みのみ適用いたします。

・3名様以上でお申込みの場合、3人目以降は定価の半額で受講できます。

・受講券、請求書は、代表者にご郵送いたします。

・請求書および領収書は1名様ごとに発行可能です。ご希望の場合はお知らせください。

・他の割引は併用できません。

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○お申し込み後、サイエンス&テクノロジーより確認のご連絡を差し上げます。

○受講料は銀行振込、または当日会場にて現金でお支払いください。

○お申込み後、ご都合が悪くなった場合は代理の方のご出席も可能です。

やむなくキャンセルされる場合は、下記のキャンセル規定で承ります。

◇キャンセル規定◇

開催日から逆算(営業日:土日・祝祭日等を除く)いたしまして、

・開催7日前以前でのキャンセル: キャンセル料はいただきません

・開催3~6日前でのキャンセル: 受講料の70%

・開催当日~2日前でのキャンセル・欠席: 受講料の100%

※受講料入金後での7日前以前のキャンセルについて、返金の手続きが発生した場合

の振込手数料はお客様負担とさせていただきます。

※2名同時1名無料キャンペーン適用で「1名のみキャンセル」の場合は、

キャンセル料は発生いたしません。

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※お申し込み詳細についてはQ&Aにも掲載しております。

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