電子線マイクロアナライザー（EPMA）
X線回折装置（XRD）
走査型電子顕微鏡（SEM）
分析走査電子顕微鏡（SEM-EDS）
走査型プローブ顕微鏡（AFM）
雰囲気制御走査型プローブ顕微鏡（WET-SPM）
走査型共焦点レーザー顕微鏡（OLS）
ナノサーチ顕微鏡（SFT）
ガスクロマトグラフ（GC）
ガスクロマトグラフ質量分析装置（GCMS）
液体クロマトグラフ（HPLC）
液体クロマトグラフ質量分析装置（LC-MS）
ヘッドスペースガスクロマトグラフ（HS-GC）
ヘッドスペースガスクロマトグラフ質量分析装置（HS-GCMS）
熱分解ガスクロマトグラフ質量分析装置（PY-GCMS）
赤外分光光度計（FTIR）
赤外顕微鏡（AIM）
ラマン分光分析計
紫外可視近赤外分光光度計（UV-VIS-NIR）
蛍光分光光度計（RF）
全有機炭素系（TOC）
イオンクロマトグラフ（HIC）
原子吸光光度計（AA）
高周波プラズマ発光分析装置（ICP-AES）
高周波プラズマ質量分析装置（ICP-MS）
波長分散型蛍光X線分析装置（XRF）
エネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDX）
微小部エネルギー分散型蛍光X線分析装置（μ-EDX）
示差走査熱量計（DSC）
熱機械分析装置（TMA）
熱重量測定装置（TGA）
示差熱・熱重量同時測定装置（DTG）
万能試験機（UH）
オートグラフ（AG）
マイクロオートグラフ（MST）
小型卓上試験機（EZGraph-EZTest）
疲労試験機（サーボパルサ）
電磁力式微小材料試験機（マイクロサーボ）
高速衝撃試験機（HITS）
粘性試験機（CFT）
微小圧縮試験機（MCT）
ダイナミック超微小硬度計（DUH）
微小硬度計（HMV）
乾式自動密度計
レーザー回折式粒度分布測定装置（SALD）
自動ポロシメーター
比表面積/細孔分布測定装置
臭い識別装置（FF）
高速度ビデオカメラ（HPV）