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製品・技術

反射率の悪い被検物でも測定可能 VK-2002型

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厚さ測定器  /  電子・半導体 試験・分析・測定 光学機器

干渉式非接触万能厚さ測定器【VK-2002型】

数μ~23mmの厚み段差が測定可能

測定精度:±0.2μm


『 干渉式非接触万能厚さ測定器 VK-2002型 』用途一例

  • 半導体分野のウエハの厚み測定
  • CDスタンパーの厚み測定
  • 精密プレス製品の厚み・段差測定
  • 精密プラスチック製品の厚み・段差測定
  • その他


『 干渉式非接触万能厚さ測定器 VK-2002型 』の特徴

  • 数μから23mmの厚み段差が測定可能
  • ゴム、繊維、皮革、紙等、反射率の悪い被検物でも測定可能
  • 複雑な形状でも簡易に測定が可能
  • どんな被検物測定でも測定操作が簡単
  • 金属、工具顕微鏡としても使用可能(極小物のXYZ測定も可能)
  • 広い分野の被検物が瞬時に測定
  • パソコン管理も可能


測定でお困りのワークを弊社デモ機にてデモ測定を行います。
お気軽にご連絡ください。

 

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