No.347　2006年11月27日
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┃●┃ユーザーの要望に合わせて装置をフルカスタマイズ！
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「正しい検査を早く、簡単に、安く行いたい！」このような要求に応えるに
は、高検出力・低虚報率・高生産性を備えた装置が必要ですが、この３点を
同時に満たすことはなかなか難しいものです。
そこでこの度は、「人間の感性に装置を近づける」というコンセプトで外観
検査装置の設計・製作を行うメガトレードを紹介いたします。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス！ 】※※※※※※※※※※※

　　　　　　外観検査装置の設計・製作はお任せください
　　　　　　　高性能と低価格を両立「 メガトレード 」

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■「感性」を持った外観検査装置
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御社でご使用中の外観検査装置は、次のような問題を抱えていませんか？

・検出力が足りず不良が検出できない
・検出力が高すぎて良品が出ない
・虚報が多くて全数検査できない
・カスタマイズして欲しいが非常に高価

長年「外観検査装置」の開発に携わってきた同社には、不良を検出するため
のノウハウが蓄積されています。光学技術においては、カメラと照明の組合
せ・配置を工夫するということにとどまらず、照明を自社開発。
正しい検査を、早く、安く、簡単に」を目指した外観検査システムを開発し、
御社のニーズに沿う外観検査装置のフルカスタマイズに対応します。


■セミナーの概要
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この度、メガトレードは「セミコンジャパン」「エレクトロテスト・ジャパ
ン」にそれぞれ出展します。会場では、デモ機「ウエハ・ガラス基板クラッ
ク検査装置」と、最近開発したソフト「Alterf」と、多種多様な照明を用意
し、ベテラン検証者が対応いたします。

サンプルを持参いただければその場でデモを行い、撮像画像、検査結果、検
証環境等をレポート形式に簡潔にまとめ、CD-Rに焼きその場でお渡しすると
のこと。
この機会にぜひサンプル持参で訪問されてみてはいかがでしょうか。
招待状もご用意できるので、ご希望の方はお早めにお問い合わせください。


■セミコンジャパン2006
会期：2006年12月6日（水）～8日（金）
会場：幕張メッセ
ブース番号：4A-405
※大日商事株式会社様と共同出展しています

■エレクトロテスト・ジャパン
会期：2007年1月17日（水）～19日（金）
会場：東京ビックサイト
ブース番号：3-36
※新型の照明も披露します！


▽本メールマガジンへのご意見ご感想はこちらまで！
info@atengineer.com