No.393　2007年4月11日
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┃●┃　世界水準の表面分析サービスを幅広く提供！
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二次イオン質量分析（SIMS）、X線光電子分光分析（XPS/ESCA）、グロー放
電質量分析（GDMS）といった　表面分析の受託サービスを提供する専門商社、

それがナノサイエンス（株）です。表面分析において世界一流技術を有する
エバンス・アナリティカル・グループ（EAG）の日本法人として、以前にも
増して充実した各種分析の提案やアドバイス、サポートを行っています


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス！ 】※※※※※※※※※※※

イオン、電子、Ｘ線による表面分析の提供ほか素材分析もさらに充実！
      世界的な分析技術とノウハウを提供「ナノサイエンス」

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┃●┃　イオン、電子、X線による多様な表面分析サービスを提供
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同社の主な表面分析を紹介しましょう。
例えば、EAG（エバンス・アナリティカル・グループ）が主軸とする表面分
析サービスである二次イオン質量分析「SIMS分析」。高感度で、深さ方向や
全元素の分析が可能な表面分析で、マトリックス元素から極微量不純物まで
検出濃度範囲が広い点が特徴です。

XPSまたはESCAとも呼ばれる「X線光電子分光分析」は、化学結合状態情報が
得られる非破壊分析ですが、表面汚染や変色部の同定のほか、パウダー試料
や破片状試料の組成分析などに利用できます。

「GDMS」とは、固体試料を陰極としグロー放電を用いて試料表面をスパッタ
し、放出された中性粒子をプラズマ内のArや電子との衝突によってイオン化
させるグロー放電質量分析。Li～Uまでの元素についてppb～％のバルク分析
が可能です。

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┃●┃　表面分析用標準試料の作成や販売も
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そのほか、米国Full Wafer Analysis社による日本初の分析サービスとして
注目なのが、低エネルギーX線分析「LEXES」です。低エネルギーの電子線の
照射により、試料表面から放出される特性X線を検出。数nmから数百nmの深
さ情報を得ることができる分析手法です。

同社では、各種表面分析受託サービスだけでなく、分析用の標準試料も提供
しています。表面分析ごとに豊富な種類の標準試料を用意。必要に応じ、新
しい標準試料の作成や販売も行っています。


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ファインセラミックスの原料選定から焼成、精密加工まで一貫対応。
酸化物系、アルミナ・ジルコニアなど、条件が合えば2週間以内の納品可能！
https://business.atengineer.com/azuma/
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