No.550　2008年1月18日
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┃●ボケやにじみのない高コントラスト・高解像力の画像を提供！
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電子顕微鏡では表現できない様々な特徴を持つコンフォーカル（共焦点）顕
微鏡。試料表面の微細部分の色・形状まで正確に再現でき、高低差のある試
料もすべての部分に完全に焦点を合わせた画像を得ることができます。
コンフォーカル顕微鏡での液晶パネル・半導体関連の異物検査に、数多くの
実績があるレーザーテック株式会社様を今回はご紹介します。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス！ 】※※※※※※※※※※※

　　共焦点顕微鏡ならではの「リアルカラー」高精細画像を提供！
　　　　コンフォーカル顕微鏡　OPTELICSシリーズ

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■コンフォーカル顕微鏡初の3ラインCCD(R・G・B)搭載！
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高精細で正確な観察画像取得のために、 受光システムに大画素数CCD3素子
を配置。3CCD（RGB）とした結果、 リアルカラーの高精細コンフォーカルHD
画像を取得可能としたのが「OPTELICS H1200」です。

R･G･B各400万画素の画像を合成し、1200万画素のカラーコンフォーカル画像
を出力します。画像取得速度も大幅に改善し、測定時間を同社従来機比で1/4
に短縮。半導体、液晶パネル関連材料、金属材料、セラミックス材料、高分
子材料、生物試料などの各種材料の観察・計測に成果を発揮します。


■高解像度画像と高分解能Zデータを同時に取得！
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コンフォーカル顕微鏡とミラウ干渉測定システムのコラボレーションといえ
るのがナノスケールコンフォーカル顕微鏡　『OPTELICS S130IF』です。

位相シフト干渉法との組合せにより、ナノレベルの段差まで測定が可能。通
常のコンフォーカル顕微鏡ではZ精度0.1-ｍ程度ですが、『OPTELICS S130IF』
はmmからnmまでの広い測定ダイナミックレンジで測定できます。各種材料の
表面ミクロ構造の観察、計測、評価に最適です。

このほか、同社では高付加価値のコンフォーカル顕微鏡を取り扱っています。
サンプル測定やデモ機により、コンフォーカル顕微鏡ならではの「リアルカ
ラー」の高精細画像を体感してみてはいかがでしょうか。


技術・製品についてのお問い合わせ・ご質問がございましたら、ぜひお気軽
にお問い合わせください。


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