No.584　2008年3月7日
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┃●100Vの電源だけで食品に含まれる微量の異物も非破壊で組成分析！
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本日は蛍光X線検査装置を取り扱っているアワーズテック株式会社様をご紹
介いたします。

蛍光X線分析とは試料にX線を照射して、発生した蛍光X線を直接に半導体検
出器を用いエネルギー分析を行う方法です。試料に直接触れることがないた
め、生産現場におけるオンラインでの計測が可能となったり、粉体、液体、
固体など試料形態を問わず、様々な組成の試料に適用できるといったメリッ
トがあります。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス！ 】※※※※※※※※※※※

　　　　電源AC100Vさえあればどこでも非破壊測定が可能！
　　　～3mmφの部位を特定した測定も可能な蛍光X線分析装置

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■測定面は～3mmφと、部位を特定した測定も可能な「OURSTEX140」
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同社のエネルギー分散型蛍光X線分析装置のシリーズは液体窒素や冷却水、
分析用ガスなどが不要で100Vの電源だけで分析が可能です。 そのため前処
理などの準備が容易で迅速に測定を行えます。

中でも「OURSTEX140」は高計数率・高分解能を持ち、高精度な分析や微量の
分析に適しています。X線照射径が～3mmφと部位を特定して測定が行えます。

測定対象は固体・粉体・液体に加え、薄膜や生体試料も可能なため、各種食
品中の異物分析からセメント・ガラス・窯業原料などの成分分析、触媒中の
不純物分析など幅広い応用が可能です。
（※「OURSTEX140」の導入には事前に労働基準監督所への届出が必要です）


■電子材料中の微量有害金属元素を分析！WEEE、RoHS指令の調査に
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2006年7月にEU(欧州連合)で施行されたRoHS指令では電気・電子機器への特
定有害6物質(鉛・水銀・カドミウム・六価クロム・PBB・PBDE)の使用が制限
されました。

 同社の「OURSTEX150RoHS」ならこれらの微量有害金属元素を短時間に簡単
に測定できます。さらに小型（580（W）×490（D）×390（H）mm）・軽量
（約44kg）のため現場でオンサイト分析を行っていただけます。

電子部品中の有害元素分析やはんだ中の鉛の分析などを、大切な商品を傷つ
けることなく測定可能です。さらに多元素同時分析のため測定時間を短縮で
きます。報告書作成サポート機能も付属しています。


エネルギー分散型蛍光X線分析装置他にも考古学や文化財を傷つけずに調
査・鑑定を行う「OURSTEX 100FA」等のシリーズがあり大手企業・大学・研
究所など導入実績も豊富です。

同社は自社で開発を行っているため、オプション追加など柔軟な対応が可能
です。お気軽にお問い合わせください。



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