No.634　2008年5月23日
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┃●信頼性試験、故障解析、デバイス評価などでお困りなら
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単納期でのボード設計の製作やプログラムの作成、少量ウェハ・チップの評
価や測定を請け負ってくれるところをお探しではないでしょうか。

このような電子部品・デバイスに関する問題にすばやく対応し解決するのが、
本日ご紹介する沖エンジニアリング株式会社様です。沖電気工業株式会社様
の信頼性評価部門として培われた電子機器および電子・半導体部品の信頼評
価技術、故障解析技術を提供しています。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※※※※

　電子デバイス、電子部品等を対象とした幅広い信頼性評価を実施
　　最適試験条件の提案や試験前後の評価も一貫して対応

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■1個のベア・チップから評価・検査が可能
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同社ではテストプログラムの開発やテストベクタが入手できない汎用デバイ
スのテストベクタ作成、旧型テスタのテストベクタの変換やシミュレーショ
ンパターンからテストベクタへの変換等のサービスを提供しています。

またICテスタを保有しているため、特性測定、特性評価（AC特性実力値測定
やマージン測定等）を室温以外に高低温で実施可能です。

製品段階で発生する問題を早期に検出するWLR（Wafer Level Reliability）
評価やスクリーニングなども行っています。


■開発・改良の電子機器を国際規格にて測定
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同社では、電子デバイス・電子部品・ユニット・システム・材料を対象とし
た特性評価、環境分析、異物分析、寿命試験、耐久検査、不具合分析など、
様々な分析も実施。

例えば、特性評価では、電子デバイス・電子部品・材料等の電気特性／機械
特性／物理・化学的特性を評価。特に電気特性では、簡単な測定評価から、
精密なテストを用いたLSI特性評価まで行っています。

信頼性試験においては、部品・ユニット等の使用期間中の故障発生を予測・
予防するため、故障を誘発する加速条件下でテストし、故障率や寿命を測定。
LSI・IC・抵抗・コンデンサ等の部品、プリント回路板や配線板およびユニ
ットなどの不良品除去に用いられています。


同社はデバイスに関する「困った」に素早く対応いたします。故障解析や構
造解析、信頼性試験などについて、お気軽にお問い合わせください。少量の
検査も承っています。


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