No.643　2008年6月5日
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┃●プリント配線板や電子材料などの絶縁抵抗劣化を評価
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新素材や新製品の研究段階における信頼性評価試験の中でも重要な評価項目
とされる絶縁信頼性。プリント基板などでイオンマイグレーションが発生す
ると部品の損傷から製品の損傷となり、場合によっては多大な損害・損失を
生じることがあるためです。

こうした絶縁抵抗テスターなどの開発・販売・受託試験を行っているのが、
本日ご紹介するJ-RAS株式会社様です。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス！ 】※※※※※※※※※※※

　　プリント配線板の信頼性評価試験機の製造と受託試験サービス
　　　高速データ収録を実現したイオンマイグレーションテスター
　　　　　https://business.atengineer.com/j-ras/product1.htm

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■イオンマイグレーションテスターの製造、販売、受託試験
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高密度実装に伴う配線パターンの微細化や新しい実装技術の登場により、絶
縁信頼性評価は近年ますます重要な評価項目となっています。同社では、プ
リント基板や電子材料などの絶縁性能を評価するイオンマイグレーションテ
スターを製造、販売。さらに、テストサンプルを預かり、絶縁劣化評価の受
託試験も行っています。

同社の製品は、最大400のサンプルに1～300Vの電圧を印加し、全チャンネル
16ms同時の高速サンプリング処理にて抵抗値を常時モニタリングし、絶縁劣
化を確実に検出します。

受託試験では、一般的な恒温恒湿槽と高加速度寿命試験機（HAST）を完備し、
幅広い試験のニーズに対応します。試験の途中経過、試験後のグラフ処理・
顕微鏡撮影写真の提出など、充実した試験結果により、サンプル評価業務を
サポートします。

▼イオンマイグレーション試験の概要など、詳しくはこちら
https://business.atengineer.com/j-ras/


■イオンマイグレーションを評価する新しいテスターを出展
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同社では、6月11日（水）から開催される「2008 試験・検査・評価・分析総
合技術展」に出展。プリント配線板の評価には欠かすことのできないイオン
マイグレーションを評価するテスター「ECM-100」の展示、「ECM-100」を使
用した受託試験サービスの紹介をします。

「ECM-100」は、ハイサイド電流計測方式で、全CH独立ADコンバータ搭載に
よる高速データ収録を実現した新しいテスター。それを使った絶縁劣化評価
のデモンストレーションをご覧いただけます。

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展示会名　：　2008試験・検査・評価・分析総合技術展
会　期　　：　２００８年６月１１日（水）～１３日（金）
会　場　　：　東京ビッグサイト
小間番号　：　１４Ｋ－１５
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イオンマイグレーション試験や「ECM-100」、展示会出展についてのお問い
合わせ・ご質問がございましたら、お気軽にお問い合わせください。

▼お問い合わせはこちら
https://business.atengineer.com/j-ras/ask.htm

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