No.671　2008年7月15日
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┃●お手持ちの走査型電子顕微鏡（SEM）から3次元ハイトマップを作成
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SEMステレオ画像から立体画像を作成し、3D表示するとともに、プロファイ
ル、距離、面積、体積、その他を測定するソフトウエア Alicona社製
「Mex」を紹介します。

国内輸入代理店　株式会社ソリューションシステムズ様では、2008年7月30
日（水）～8月1日（金）に開催される「第19回マイクロマシン／MEMS展」に
出展します。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※※※※

　精度をあげるため、傾斜角度誤差を補正する3方向画像データを採用
　SEM画像から3D立体画像を作成する日本語対応ソフトウエア「Mex」
　　　　　　　http://www.solution-systems.com/mex.htm

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■高精度の計測を可能にした「Mex」
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「Mex」は、画像間の相対するポイントの比較検出に優れたユニークな特殊
検出アルゴリズムを採用。従来のエリアベース相関比較検出法に比べ、信頼
性が格段に向上しています。クリック1つで簡単補正。信頼性、再現性の高
い3D再構築が可能になりました。

他社製品に比べ特徴的なのが、傾斜角度誤差を補正するために3方向画像
データが採用できる点と、ISO標準の解析測定です。従来のステレオペアー
ではできなかった精度が向上しています。

また、プロファイルや面解析においてISO4287準拠の表面粗さ、表面積、体
積測定、2次元計測などが可能。ISOに準拠した測定レポートを作成します。

▼「Mex」特徴や機能について詳しくはこちら
http://www.solution-systems.com/mex.htm


■東京ビッグサイト「第19回マイクロマシン／MEMS展」に出展
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同社では、世界最大規模のMEMS専門展示会「第19回マイクロマシン／MEMS
展」に「Mex」を出展します。

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展示会名　：　第19回マイクロマシン／MEMS展
会　期　　：　2008年7月30日（水）～8月1日（金）
会　場　　：　東京ビッグサイト
ブース　　：　西2ホール「評価・計測機器」ゾーン 「W2-140」
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同社ブースにサンプル画像をお持ちいただければ、その画像から3D画像を作
成。その場でデモが可能です。
ぜひ、この機会に「Mex」を体験してみてはいかがでしょうか。

▼サンプル画像の取込み方について詳しくはこちら（PDF）
http://www.solution-systems.com/mex_pdf/sumpleimg.pdf

同時にアナログSEM用デジタルインターフェイス「DISS-5」も展示します。

▼「DISS-5」の情報はこちら
http://www.solution-systems.com/diss5.htm



お問い合わせいただいた方には印刷カタログを進呈。また、ご希望の方には
日本語デモCDを差し上げます。ぜひ、お気軽にお問い合わせください。

▼「Mex」のカタログはこちら（PDF）
http://www.solution-systems.com/mex_pdf/mex_catalogue.pdf

▼「Mex」についてのお問い合わせはこちら
sales@solution-systems.com


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