No.813　2009年3月3日
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┃●電子部品・半導体の信頼性試験および評価を受託
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半導体や電子部品の検査を総合的に受託してくれるところをお探しではあり
ませんか？今回ご紹介する株式会社ルネサスクオリティエンジニアリング様
は、電子部品・半導体の試験・評価における計画からテストプログラム作成、
試験用治具の製作、故障解析まで、品質保証支援に実績があります。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※※※※

　　 　信頼性試験、選別検査から構造解析まで、品質技術を支援
　　　　　　　「ルネサスクオリティエンジニアリング」

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■IECQ独立試験所の認定を取得
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同社は、IECQ制度（IEC 電子部品品質認証制度：正式名称 IEC Quality
Assessment System for Electronic Components）に基づく、IECQ独立試験
所の認定を取得しています。

IECQ独立試験所とは、国際規格ISO／IEC17025「試験所及び校正機関の能力
に関する一般要求事項」に準拠した試験所のことで、同社は、高温試験、低
温試験、温度変化（温度急変、二液槽温度急変）試験、高温高湿（定常）試
験について認定を取得しています。


■半導体（IC）の静電破壊試験
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半導体デバイスが静電気を受けると、内部配線の溶断や酸化膜の破壊、内部
リードの溶断等の破壊現象が生じ、オープン／ショート特性や動作不良とな
ります。

半導体の静電破壊試験は、半導体デバイスを電子機器に実装するまでの取り
扱い中において、半導体デバイスが受ける静電気放電に対する耐性を評価す
る為の試験です。

ラッチアップ試験にも対応可能。治具（評価基板やソケット）の製作も含め
て、対応します。


そのほか、環境試験をはじめとする信頼性試験全般に対応しています。
電子部品・半導体の信頼性試験総合アウトソーシングソリューションをご提
供。設備や評価事例など、お気軽にお問い合わせください。


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