No.931　2009年08月27日
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┃●プリント配線板や電子材料等における絶縁抵抗劣化の評価
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J-RAS株式会社様は、エレクトロケミカルマイグレーション（イオンマイグ
レーション）テスターをはじめとする信頼性試験機の製造・販売および、受
託試験業務を行っています。自社開発の機器を用いて、確かな絶縁信頼性評
価を実現する受託試験サービスは、製品信頼性向上を強力にサポートすると
同時に、日本製品の品質信頼性にも大いに貢献しています。

※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※※※※

　　　新素材・製品の研究・開発に必要不可欠な絶縁信頼性試験
　　　　　　　　　　実例計測データを公開中
　　　　　https://business.atengineer.com/j-ras/

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■新素材・新製品の研究開発に欠かせない、重要項目を評価
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プリント基板や電子材料などでマイグレーションが発生すると、最悪の場合、
回路パターンのショートを引き起すこともあります。これによって、部品・
製品の損傷が誘発され、多大な損害・損失を生じる可能性も少なくありませ
ん。そのため絶縁信頼性試験は、新素材・新製品の研究開発に欠かせない重
要項目だといえます。

同社では、ユニークな発想とノウハウを駆使した絶縁抵抗測定器「EMC-100
シリーズ」をはじめ、恒温恒湿漕、HASTを使用し、プリント基板はもちろん、
はんだ、樹脂、導電性接着剤・絶縁材料など、クライアント様のご要望に応
じた条件で各種試験を行っています。

▼受託試験、絶縁抵抗測定器についてはこちら
https://business.atengineer.com/j-ras/


■格段にノイズに強く安定した高抵抗値の計測データ
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表面処理の異なる4種類の試験サンプルについて、耐エレクトロケミカルマイ
グレーション試験を行った結果の事例をご紹介します。各データは現場で実
際に計測された数字です。

従来のテスターでは、データがノイズまみれになる、計測能力が不足してい
る、などの問題により高抵抗領域での差異が把握できないことがありました。
しかし、同社の試験では、ノイズに強く安定した高抵抗値の計測データを得
ることが可能。また、リファレンスの櫛形パターンとの絶縁性能の比較が容
易に行えるので、それぞれの表面処理が与える影響も把握できます。

さらに、スキャン処理やサンプリング処理の速度の問題で、短時間の絶縁劣
化が検出できない従来のテスターとは違い、瞬間的な絶縁劣化を逃さない、
高速処理を実現。単なる絶縁劣化についてのOK、NGの結果以上に開発検証に
役立つデータが得られました。驚きの試験結果を、その目でお確かめくださ
い。

▼マイグレーション受託試験の事例についてはこちら
http://www.atengineer.com/pr/j-ras/20090811001.html


マイグレーション試験やテスターについてのご質問・ご要望など、お気軽に
お問い合わせください。

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