No.946　2009年09月16日
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┃●電子部品・半導体の受託試験のことなら
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電子部品・半導体の試験・評価における計画から、テストプログラム作成、
試験用治具の製作、故障解析まで、品質保証支援で実績のある企業が株式会
社ルネサスクオリティエンジニアリング様です。本日は、同社の数多くある
評価事例の中から、特筆すべき事例をご紹介しましょう。


※※※※※※※※※※※【 ここにフォーカス 】※※※※※※※※※※※※

LEDやパワーデバイスを始めとした半導体デバイスや電子部品に対して
　　信頼性試験や故障解析など品質保証業務をトータルでサポート

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■環境試験装置や機械的特性用衝撃試験装置で精度の高い解析
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同社の評価事例の一つに、熱衝撃試験などの半導体デバイスの耐候性試験が
あります。使用中、保管中、輸送中に、半導体デバイスが受ける可能性のあ
る環境に対する耐性を評価するもので、温湿度サイクル、熱衝撃などの各種
試験は、JEITA（電子情報技術産業協会）、MIL（米軍規格）にそれぞれの試
験方法や試験条件が規定されています。

同社ではIECQ独立試験所の認証を取得しており、電気試験装置、熱衝撃試験
用装置などの各種環境試験をはじめとする解析装置を完備。高温・低温保存、
耐湿保存、温度サイクル、熱衝撃など、デバイスがさらされる様々な環境
（温度・湿度）に対する耐性を評価します。


■静電破壊試験や錫ウィスカの評価にも対応
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このほか、デバイス取り扱いなどにより受ける静電気に対する耐性を評価す
る静電（ESD）破壊試験では、人体帯電モデル（HBM/ESD）、マシンモデル
（MM/ESD）、デバイス帯電モデル（CDM/ESD）といった試験を実施します。


「猫のひげ」と呼ばれる金属めっき皮膜表面に発生したヒゲ状の結晶生成物
をウィスカと言いますが、同社では錫ウィスカの評価など、走査形電子顕微
鏡を使用した万一の不良解析にも対応。半導体リードフレームのウィスカ評
価や、基材による錫めっきのウィスカ評価試験を行います。


電気試験装置、熱衝撃試験用試験装置などの各種環境試験装置をはじめ、機
能検査のためのテスタ、万一の不良解析のための走査形電子顕微鏡、電子線
マイクロアナライザ、超音波探傷装置、エミッション顕微鏡など、充実した
解析装置を完備。電子部品・半導体の各種信頼性試験について、お気軽にお
問い合わせください。


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