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   【受託分析サービス】株式会社 クリアライズ
製品・技術

「微細構造を調査したい」③

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試験評価 微細構造調査 材料・素材  / 2021年03月24日 /  試験・分析・測定 先端技術

 

クリアライズでは、複数の微細構造調査を実施しており、試験前後の材料調査・評価も可能です。当サイトへ訪問いただきました皆様へ5回に分けて保有技術をご紹介いたします。

尚、詳しい資料に関しましては、下欄の「資料ダウンロードページへ」から入手いただくことが可能です。ぜひご覧ください。

 

1)透過電子顕微鏡(TEM)

 透過電子顕微鏡(TEM: Transmission Electron Microscope)は、微小領域の観察及び解析を可能とする装置として広く利用されています。

 近年、弊社内では、ナノエリアの分析にSTEM(Scanning Transmission Electron Microscope)を主流としておりますが、回折コントラストを生かした明視野像は、現在も多くの研究者から称賛の声をいただいており、TEMならではの電子線回折等も有効分析手段として用いられております。

 

 

2)透過電子顕微鏡(TEM)による結晶構造解析

 透過電子顕微鏡(TEM:TransmissionElectron Microscope)は、形態を観察しながら微小領域の組成分析や結晶解析を可能とする装置です。それらを同一部位で測定出来るため、得られる情報量も多く、故障解析や研究開発に広く用いられています。今回は、その一例として結晶解析を紹介します。

 

製品概要 〔透過電子顕微鏡(TEM)〕
透過電子顕微鏡(TEM: Transmission Electron Microscope)は、微小領域の観察及び解析を可能とする装置として広く利用されています。
近年、弊社内では、ナノエリアの分析にSTEM(Scanning Transmission Electron Microscope)を主流としておりますが、回折コントラストを生かした明視野像は、現在も多くの研究者から称賛の声をいただいており、TEMならではの電子線回折等も有効分析手段として用いられております。
特徴 ・特長
【HF-2200 Cold-FE/TEM】
Cold-FE銃の登載とTEMの特性を生かし、ナノプローブ電子線回折が測定可能です。また、加熱ホルダーを装着することでInsitu観察もリアルタイムで可視化出来ます。
【H-9000NAR 300kV/TEM】
300kVの高加速電圧を有している為、やや厚めの薄膜試料でも測定可能です。特に材料欠陥や転位観察等に威力を発揮します。
製品名・型番等
シリーズ名
微細構造調査
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