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   【受託分析サービス】株式会社 クリアライズ
製品・技術

「微細構造を調査したい」➄

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試験評価 微細構造調査 材料・素材  / 2021年03月26日 /  試験・分析・測定 先端技術

 

クリアライズでは、複数の微細構造調査を実施しており、試験前後の材料調査・評価も可能です。当サイトへ訪問いただきました皆様へ5回に分けて保有技術をご紹介いたします。

尚、詳しい資料に関しましては、下欄の「資料ダウンロードページへ」から入手いただくことが可能です。ぜひご覧ください。

 

1)走査電子顕微鏡(SEM)

 試料に電子線を照射すると。二次電子や反射電子、特性X線などが発生します。SEMは二次電子や反射電子を検出し、試料の表面形状を観察します(SEM像、反射電子像)。二次電子及び反射電子信号の混合比を制御して目的に合った画像観察が得られます。SEM像や反射電子上の任意箇所、或るいは同一領域で発生した特性X線を分析することにより、構成元素や元素分布のようすを観察することもできます(EDX)。

 

 

 

製品概要 〔走査電子顕微鏡(SEM)〕
試料に電子線を照射すると。二次電子や反射電子、特性X線などが発生します。SEMは二次電子や反射電子を検出し、試料の表面形状を観察します(SEM像、反射電子像)。二次電子及び反射電子信号の混合比を制御して目的に合った画像観察が得られます。SEM像や反射電子上の任意箇所、或るいは同一領域で発生した特性X線を分析することにより、構成元素や元素分布のようすを観察することもできます(EDX)。
特徴 ・特長
■試料表面および断面形状の高分解能観察(分解能:1.0nm/加速
 電圧15kV,2.0nm/加速電圧1kV)。
■高効率反射電子検出方式(Super ExB)採用による高コントラス
 ト画像取得。
■付属EDX分析装置によるB~Uの元素分析と面分析、線分析が
 可能。
■大気遮断制御による観察が可能(Arガス雰囲気制御)。
製品名・型番等
シリーズ名
微細構造調査
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