製造業関連情報総合ポータルサイト@engineer
WEB営業力強化支援サービスのご案内
   【受託分析サービス】株式会社 クリアライズ
製品・技術

受託分析サービス紹介「STEM分析」動画公開のお知らせ

  • このエントリーをはてなブックマークに追加
  • @engineer記事クリップに登録
試験評価 表面分析 材料・素材 成分分析  / 2021年11月24日 /  試験・分析・測定 先端技術

受託分析サービス紹介「STEM分析」動画を公開いたしました。
株式会社クリアライズは、分析・測定・調査 を通し、地域のモノづくり現場や製造現場において、 お客様が抱える課題や研究に、確かな分析技術でお応えしてまいります。


今回は「STEM分析」について、動画でご紹介いたします。

 

【STEM分析】

 

 

製品概要 近年、材料や製品の微細化に伴い、原子レベルでの構造や組成の分析・評価が重要視されています。
これらの分析・評価には、走査透過電子顕微鏡(STEM:Scanning Transmission Electron Microscope)が広く用いられています。
当社のHD-2700形STEMには、レンズの球面収差を補正する球面収差補正器(Cs-corrector)が搭載されており、材料やデバイスの構造、組成、化学結合状態を高いレベルで測定(STEM分析)することが可能です。
特徴 【高分解能観察】
球面収差補正器搭載によって原子レベルの高分解能で、明視野STEM像、環状暗視野STEM像、二次電子像が取得可能です。

【高感度EDX*1分析】
大口径100mm2SDD*2によって、微小領域、微量元素の高感度EDX分析が可能です。

【高エネルギー分解能EELS*3分析】
冷陰極電解放出形電子銃とDualEELSの組み合わせによって、高エネルギー分解能で高精度なEELS分析に対応、組成分析や化学結合状態の評価が可能です。

有償公開分析サービス
事前に準備した薄膜試料、もしくは当日お持ちいただいた試料を用いて、半日・一日単位の立会い分析が可能です。熟練したオペレーターの操作で、試料状況を確認しながら、観察・分析箇所や各種条件の指定ができます。 なお、当日測定したデータは、即日お持ち帰りいただけます。

*1
EDX :Energy Dispersive X-ray Spectroscopy エネルギー分散型X線分光法
*2
SDD : Silicon Drift Detector シリンコンドリフト検出器
*3
EELS : Electron Energy-Loss Spectroscopy 電子エネルギー損失分光法
製品名・型番等
シリーズ名
STEM分析
  • HOME
  • ニュース
  • 製品・技術
  • コラム
  • 試験一覧
  • 会社概要
  • 設備紹介
  • お問い合わせ
参加ポータル
試験・分析.com
エコ&エネルギーポータル