【Live配信セミナー 6/13,20】FT-IRの基礎と目的に応じた前処理テクニック

＜セミナー No.306231＞

 【Live配信セミナー】

FT-IRの基礎と

目的に応じた前処理テクニック

★ 試料の形状・状態、目的に応じた前処理方法を徹底解説！
★ 前処理が出来ない小さい試料、少ない試料への対応は？

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■　講　師

あなりす 代表 博士(工学) 岡田 きよみ 氏

【講師略歴】
1984-2005 王子ホールディングス(株)　(研究開発、分析部署)
2006-2016 (株)パーキンエルマージャパン（分光機器部署）
2016-2019 京都大学 工学研究科
2018- あなりす

■　聴講料

1名につき５５，０００円（消費税込、資料付）

〔１社２名以上同時申込の場合のみ１名につき４９，５００円〕
〔大学、公的機関、医療機関の方には割引制度があります。詳しくはお問い合わせください〕

◆　Live配信セミナーについてのお願い　◆

■　お申込み前にご確認ください
・ パソコンもしくはタブレット・スマートフォンとネットワーク環境をご準備下さい。
快適に視聴するには30Mbbs以上の回線が必要です。

・ Zoomを使用されたことがない方は、ミーティング用Zoomクライアントをダウンロードして下さい。ダウンロードできない方はWebブラウザ(Google Chrome、Firefox、Microsoft Edge)でも受講可能です。Zoomの視聴にあたり、クライアントおよびWebブラウザは最新版にアップデートして使用してください。

・ 質問の際など、クリアな音声で会話ができるよう、ヘッドセット（イヤホンマイク）の使用をお勧めいたします。

・ Zoomの使用方法につきましては、事前にWeb等でご確認ください。

■　Live配信セミナーの受講について

・ 開講日の4～5日前に視聴用のURLとパスワードをメールにてご連絡申し上げます。
セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご視聴ください。

・ 出席確認のため、視聴サイトへのログインの際にお名前、ご所属、メールアドレスをご入力ください。ご入力いただいた情報は他の受講者には表示されません。

・ 開催前日着までに、製本したセミナー資料をお申込み時にお知らせいただいた住所へお送りいたします。お申込みが直前の場合には、開催日までに資料の到着が間に合わないことがあります。

・ 当日は講師への質問をすることができます。

・ 本講座で使用される資料や配信動画は著作物であり、録音・録画・複写・転載・配布・上映・販売等を禁止いたします。

・ 本講座はお申し込みいただいた方のみ受講いただけます。
複数端末から同時に視聴することや複数人での視聴は禁止いたします。

プログラム                                                                                    

【習得できる知識】
・FT-IRの前処理に関する知識
・FT-IRの基本事項（IRで何がわかるか、測定方法、各測定方法の違い、解析）
・FT-IR分析の一連の流れと具体的作業

【講座の趣旨】

本講座では、FT-IRを使いこなして頂くことを目的としています。FT-IRの基礎事項の確認をし、分析の一連の流れを解説する中で、ユーザーの方々からご質問の多い前処理に関して焦点を当てて話を進めていきます。
前処理については、個人の工夫の部分が多いことから、詳細の説明をされることが少ないテーマです。しかし、なぜ前処理が必要なのか、前処理でどのようなことを考慮すべきかを知らなければ自分なりの工夫もできません。FT-IRの基礎事項を確認しながら前処理の必要性を考えていきます。試料の形状・状態、目的に応じた前処理方法を解説していきます。

＜１日目＞

１．分析の目的

２．FT-IRの基礎

　2.1 分析の中のFT-IR ～その位置づけ、得意不得意など～
　2.2 FT-IRから得られる情報
　2.3 どんな事に使えるのか
　2.4 FT-IRでスペクトルが得られるまで

３．FT-IRの測定方法（本体）

　3.1 それぞれの測定方法と特徴
　3.2 きれいなスペクトルを得る意味

４．測定のための前処理（その1）

　4.1 ATR法のための前処理
　4.2 透過法のための前処理
　4.3 前処理のための道具
　4.4 分離のための前処理

５．スペクトルの解析　（その1）

　5.1 解析の流れ
　5.2 データベースを用いた解析
　5.3 オリジナルデータベースの作成
　5.4 よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析

６．本体FT-IRを使用した分析事例

７．FT-IR使用上の注意点

８．1日目のまとめ

（FT-IR本体分析の流れ、本体測定での前処理）

【質疑応答】

＜２日目＞

１．1日目の復習

２．スペクトルの解析 （その2）

　2.1 構造解析
　2.2 問題解決のための解析
　2.3 解析まとめ　

３．FT-IR本体と顕微測定

　3.1 本体測定との違い
　3.2 顕微-透過法の特徴
　3.3 顕微-反射法の特徴
　3.4 顕微-ATR法の特徴
　3.5 イメージング（マッピング）法の特徴
　3.6 測定法のまとめ

４．測定のための前処理（その2）

　4.1 顕微測定のための前処理
　4.2 前処理に使用する機器
　4.3 異物を取り出す、分離する
　4.4 積層体、紙、フィルムなどの断面作成
　　4.4.1 電子顕微鏡での試料作製との比較
　4.5 積層体、紙、フィルムなどの斜断面の利点と作成

５．顕微FT-IRを使用した分析事例

６．まとめ

【質疑応答】

セミナーの詳細についてお気軽にお問い合わせください。

２名以上同時にお申込される場合、２人目以降の方の情報は

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