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設備紹介

■表面観察

 ・走査透過電子顕微鏡(STEM):日立 HD-2700

 ・走査電子顕微鏡(SEM-EDX):日立 SU6600

 ・走査電子顕微鏡(SEM-EDX):日立 S-4800
 ・走査電子顕微鏡(SEM-EDX、WDX):日立 S-3500N
 ・走査電子顕微鏡(SEM-EDX):日立 S-3700N

 ・透過電子顕微鏡(TEM-EDX):日立 HF-2100
 ・透過電子顕微鏡(TEM-EDX):日立 H-9000NAR
 
■耐摩性評価
 ・ピンオンデイスク摩耗試験機
 ・ファレックス摩耗試験機
 ・往復摺動摩耗試験機
 ・ころがり摩耗試験機
 ・フレッチング摩耗試験機
 ・磁歪振動型微小変位摩耗試験機
 ・周速摩耗摩擦試験機

■表面観察(加工観察)
 ・集束イオンビーム(FIB):日立 FB-2100

■四角強度評価(機械試験)
 ・精密万能試験機(100N~100kN)
 ・精密万能試験機(100N~100kN、2.5N~25kN)
 ・万能試験機
 ・シャルピー衝撃試験機
 ・硬さ試験機(ロックウエル、ブリネル、ショアー)
 ・硬さ試験機(ビッカース)
 ・表面あらさ計

■組成分析(元素分析)
 ・蛍光X線分析装置(XRF):理学電機 3270
 ・昇温脱離ガス分析装置(TDS):ESCO電子科学 EMD-WA1000
 ・イオンクロマトグラフ(IC):ダイオネクス DX-500、DX-320
 ・イオンクロマトグラフ(IC):ダイオネクス SIC-1500、SIC-2000
 ・イオンクロマトグラフ(IC):ダイオネクス DX-100
 ・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 G-3000
 ・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 663-30
 ・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 G3900
 ・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):日立 163
 ・ガスクロマトグラフマトグラフ(GC):島津 GC-2010

■強度評価
 ・ひずみ測定器
 ・疲労試験装置
 ・疲労解析装置

■表面分析(元素分析)
 ・マーカス型高周波グロー放電発光分光分析装置:堀場製作所 GD-Profiler2

 ・走査型オージェ電子分光分析装置(AES):アルバック・ファイ PHI 700Xi

 ・X線光電子分光分析装置(XPS):島津/クラトス AXIS-HS
 ・X線光電子分光分析装置(XPS):アルバック・ファイ PHI5000 VersaProbe Ⅱ

■シミュレーション
 ・応力解析装置
 ・鋳造解析装置

■結晶構造解析
 ・X線回折装置(XRD):理学電機 RU-300
 ・X線回折装置(XRD):理学電機 RAD-B
 ・高分解能X線回折装置(XRD,XRR):理学電機 ATX-G
 ・多機能X線回折装置(XRD):理学電機 RINT2500HL
 ・X線回折装置(XRD):日本電子 JDX-8030
 ・X線回折装置:PANalytical製 X'pert PRO-MPD PW3040/60 DY2310
 ・X線回折装置(XRD):理学電機 RINT2500HL
 ・X線回折装置(XRD):ブルカー・エイエックスエス製D8ADVANCE/L
 ・フェライト測定器

■腐食評価
 ・全自動分極測定装置
 ・還流型腐食試験装置
 ・高温、高圧小型腐食試験装置
 ・電気化学腐食測定システム

■有機構造解析(分子構造、元素分析)
 ・フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR):バイオ・ラッド FTS-40A
 ・フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR):DIGILAB FTS3000 MX
 ・フーリエ変換型赤外分光光度計(FT-IR):パーキンエルマ 1650
 ・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):日立 M-2500
 ・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):島津 OP-5000
 ・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):HP 5890/5971A
 ・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS):日本電子 JMS-700M Station
 ・核磁気共鳴分析装置(NMR):日本電子 GSX-400
 ・核磁気共鳴分析装置(NMR):日本電子 ECA500
 ・分光光度計(UV-NIR):日立 U-4100

■組織外観観察
 ・万能投影機
 ・システム光学顕微鏡
 ・偏光顕微鏡
 ・光学顕微鏡
 ・大型マクロ写真装置

■放射能分析
 ・γ核種放射能測定装置:セイコーEG&G MCA-7700
 ・α核種放射能測定装置 :アロカ JDC-8170
 ・α・β核種放射能測定装置 :アロカ LBC-471-P
 ・β核種放射能測定装置 :アロカ LSC-5000

■食品分析
 ・ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS/MS)
 ・液体クロマトグラフ質量分析計(LC-MS/MS)

■その他
 ・X線残留応力測定装置:理学電機 PSF-2M
 ・微粒子自動計測器:ハイアックロイコ 4100

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