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一次元寸法測定器の校正と不確かさ評価

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 JEMIC計測技術セミナーでは、現場に即した内容とするため外部講師には、業界の第一人者を起用しています。

 「一次元寸法測定器の校正と不確かさ評価」では、桑山 重光 氏を迎え、一次元寸法測定器(ノギス、マイクロメータ)校正の不確かさ評価と校正方法について、分かりやすく解説します。

 校正の実習では、実際に測定データを「観測紙」に記録し、不確かさの見積もり表の入ったエクセルシート上で計算し、校正結果を算出します。

 実習で使用したエクセルシートはお渡ししますので、現場でご利用いただけます。

 

ご受講戴いた方には、受講証明書を発行致します。

  

講師:桑山 重光 氏(株式会社 計量技術コンサル 代表取締役)

 通商産業省工業技術院計量研究所(現/国立研究開発法人 産業技術総合研究所)計測システム部計量標準供給室長及び計量標準管理官を歴任し、2001年に退官。

 その後、メトラー・トレド株式会社に入社して分銅とはかりのJCSS認定事業を立ち上げ、2007年に同社の技術顧問に就任。

 ・計量士

 ・一般社団法人 日本計量振興協会 計量士部会副会長

 ・東京計量士会 副会長

 

 ■対象:

 一次元寸法測定器の校正実務経験が2~3年程度の方

 

■プログラム:

1.一次元寸法測定器の校正の不確かさ評価

不確かさ要因及び算出方法、評価方法等について、解説します。

2.一次元寸法測定器の校正方法と手順

校正手順、校正の留意点等について、解説します。

3.一次元寸法測定器の校正実習

ブロックゲージ(5mm、10mm、20mm、50mm、100mm)を用いてノギス及びマイクロメータの校正作業を行うことで、理解を深めます。

 

■受講料(税込):

 37,800円

 

今年の開催はこちら

 

■お問い合わせ先:

 日本電気計器検定所 セミナー事務局 長谷川

参加ポータル
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