製品・技術
蛍光X線分析装置を用いた土壌簡易分析サービス実施中
東京都環境局選定装置を用いての土壌簡易分析サービス
- 非破壊分析なので、測定後、公定法での測定も可能
- スクリーニングとしての使用で時間とコストの削減が可能
- 公定法に比べて短時間で結果が得られる(即日に分析結果の入手が可能)
- 公定法に比べて低価格
- 東京都環境局の土壌簡易分析法に選定された技術
使用機種
エネルギー分散型蛍光X線分析装置 OURSTEX 160型
高感度の有害元素分析装置です。
▼蛍光X線分析装置OURSTEX 160型 の詳細はダウンロードからご確認ください▼
測定元素・分析方法・料金
測定元素 | 分析方法 | 料金 |
土壌中の有害6元素 (Cr、Hg、Se、As、Pb、Cd) |
定量分析 | 4,500円/1測定点 |
土壌中の硫黄分析 | 定量分析 | 4,500円/1測定点 |
土壌中の有害6元素+硫黄 定量分析 | 定量分析 | 6,000円/1測定点 |
※ 本分析値は公定法分析での分析値ではなく、蛍光X線分析法による簡易分析結果であるため、計量証明書はありません。
アワーズテック株式会社は、21世紀の環境保全、材料開発に不可欠なX線要素技術を駆使し、 小型・省エネ・省資源・低コスト・高性能・利便性を付加した装置造りに専念しています。
試料分析サービスについて、ご質問・ご要望等ございましたら、お気軽にお問い合わせ下さい。
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