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パナソニック ホールディングス株式会社 プロダクト解析センター
事例

HALTによる電子機器のはんだ接続部評価の加速性評価

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HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV

 HALT試験は、対象品に高速温度変化と6軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の超短期評価に有効です。一例として、ヒートショック試験に対する加速性の検証結果を紹介します。

 

■ヒートショック試験に対するHALTのはんだクラック評価の加速性
   ランド面積とホールの大きさを段階的に変えた試験基板で、決められた負荷条件で与えた
  て、はんだ量(上記のランド面積とホールの大きさに依存)とクラックの生じる時間の相
  関をヒートショック試験とHALTで測定します。
 
 
■評価の結果<はんだクラック発生時>
  下図のヒートショック試験(HST)とHALTの結果は傾きが一致しており、ヒートショック  
 試験とHALTの結果には故障モードの相関が強いことが判りました。また、試験時間(サイ
 クル数)の比較により、HSTに対してHALTは1/100の時間ではんだクラックの発生を評価
 できる可能性のあることが明らかとなりました。
 
   
 
■さまざまな商品の応用
 HALT だけでははんだ接続部の寿命を評価するのは難しいのですが、実績のあるヒートショック試験と組み合わせることで、今回行ったディスクリート部品の評価以外にも表面実装部品や多層基板でのはんだ接続部の短時間評価が可能となります。