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パナソニック ホールディングス株式会社 プロダクト解析センター
事例

HALTによる電気接続部の信頼性評価

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HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV

 HALT試験は、対象品に高速温度変化と6軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の短期評価に有効です。有効な事例として、カシメやコネクタ等の電気接続部の接触不良を再現した例を紹介します。

 

■電気接続部に対する微摺動摩耗による接触不良再現

 複合振動試験(50Grms一定)により、コネクタに抵抗上昇が起こるか検証しました。

電気接続部品例

 

HALT

 

温度変化:Δ(125 deg)

加速度:50Grms

 

■評価の結果:

  微摺動摩耗による接触抵抗変化(電圧変動)が認められました。

 

      接続抵抗変化による電圧変動            電圧変動測定回路

 

■さまざまな商品の電気接続部の信頼性評価が短時間で可能となります

    

     カシメ          ネジ接続             コネクタ類

 

                 家電製品内部のハーネス

■試験期間は2~3日程度です。

 右図のコネクタを使用した部品の接続不良は、通常の信頼性試験を1ヶ月行っても再現できなかったものが、HALTにより2日の試験で再現。

 

 

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