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パナソニック株式会社 プロダクト解析センター
製品・技術

HALT(高加速限界試験)とは

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HALT  /  試験・分析・測定

HALT試験の概要

「HALT」とは、対象品に高速温度変化と6軸ランダム振動を同時に印加できる高加速限界試験(Highly Accelerated limit Test)のこと。
HALT試験とは製品に強いストレスを加えることで、試験の合否判定ではなく、仕様に対する余裕(稼動マージンや破壊マージン)がどのくらいあるかを明らかにします。

 

通常の試験では再現されない不具合の再現や、他社比較や前衛機比較による弱点部の抽出も有効。不具合発生の事前防止、市場で発生した不具合の再発防止をはじめ、HALT装置を使った製品出荷検査(HASS)、定性的な加速試験への応用などに活用できます。

HALT装置

HALT装置: 米国QualMark社製 Typhoon2.5

HALT試験の概要

ストレス(温度、振動)をステップ状に変化させて加え、その都度、試験試料の機能チェックを行うことによりOK又はNGを判定し、動作限界及び破壊限界を明らかにします。

 

①低温ステップ→②高温ステップ→③急速温度変化ステップ→④振動ステップ→⑤温度・振動 複合ステップ

HALT試験の事例紹介

パナソニック解析センターのHALTは、最大加速度が70Grms。熱衝撃と複合ストレスでの相乗効果で、試作品・製品の弱点を短時間で抽出します。

 

製品に強いストレスをかけ、壊れるまで試験することで、数日程度で製品の弱点がを明らかになり、弱点の改善が製品の信頼性の向上に繋がります。

基本の5ステップストレス試験(低温→高温→急速温度変化→振動→温度・振動)以外にも、評価目的によっては、5つのうちの特定のステップのみを行うことも可能です。

試験対象 試験概要
HALTで微摺動摩耗の影響が短時間で評価可能です

微摺動摩耗の影響が短時間で評価可能

 

HALTの6軸ランダム振動や複合振動ステップ(温度変化+ランダム振動)により、コネクタやカシメなどの接続部に発生する、微摺動摩耗による接触不良の短時間評価が可能です。

HALTによるはんだクラック再現試験

HALTによるはんだクラック再現試験

 

はんだ接続信頼性をHALTで評価することにより従来のヒートショック(HS)試験よりも更に早期の評価が可能となります。

車載用情報機器コネクタのHALT評価

車載用情報機器コネクタのHALT評価

 

HALT試験は、対象品に高速温度変化と6軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の短期評価に有効です。

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