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HALT(高加速限界試験)のご紹介

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HALT 特殊試験  / 2020年12月22日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV

 

HALT( Highly Accelerated Limit Test )とは  

 

 対象品に高速温度変化(60℃/分)と6軸ランダム振動を同時に印加できる高加速試験で、製品・部品の弱い部分を顕在化し、設計及び品質評価の時間短縮に貢献します。試験はHALT装置を使用し、ステップストレス試験を基本にして行います。

 

HALT装置

 

 HALT装置: 米国QualMark社製 Typhoon2.5

 
①温度変化:-100~200℃(60℃/分以上)
 ・冷却:液体窒素をガス化して噴射
 ・加熱:40Kwニクロム型ヒータ
②6軸ランダム振動:
 ・最大50Grms (10~5000Hz)
 ・加振:エアシリンダ(8機)のハンマー
  振動盤を叩き、インパルス状衝撃を発生

 

試験方法
 
ストレス(温度、振動)をステップ状に変化させて加え、その都度、試験試料の機能チェックを行うことによりOK又はNGを判定し、動作限界及び破壊限界を明らかにします。
 
①低温ステップ→②高温ステップ→③急速温度変化ステップ→④振動ステップ→⑤温度・振動 複合ステップ
 

 

 

HALTのメリット
 
 1~数日の試験で製品の弱点が明らかとなり、設計・評価時間の短縮と市場不具合に削減に貢献します。
 
 

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我々は、高精度データを抽出できる高度な技術と、それらを解析する高度な評価技術とを融合させ、新しい視点でご提案させていただく専門集団です。お気軽にお問い合わせください。

 

HALTのパンフレットはこちらからダウンロードできます。

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