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パナソニック株式会社　プロダクト解析センター
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「HALT」一覧

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  • HALT（高加速限界試験）のご紹介

    HALT 特殊試験  / 2020年12月22日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT（ Highly Accelerated Limit Test ）とは 対象品に高速温度変化（60℃/分）と６軸ランダム振動を同時に印加できる高加速試験で、製品・部品の弱い部分を顕在化し、設計及び品質評価の時間短縮に貢献します。試…
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  • HALT（高加速限界試験）とは

    HALT  / 2019年06月24日 /  試験・分析・測定
    HALT試験の概要「HALT」とは、対象品に高速温度変化と6軸ランダム振動を同時に印加できる高加速限界試験（Highly Accelerated limit Test）のこと。HALT試験とは製品に強いストレスを加えることで、試験の合否判定で…
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  • 車載用情報機器コネクタのHALT評価

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は、対象品に高速温度変化と６軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の短期評価に有効です。今回は、車載用ＵＳＢコネクタの電気的接続部が、微摺動磨耗が原因で接触抵抗が上昇し…
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  • お困りごと解決支援【評価時間短縮編】

    HALT  / 2017年10月05日 /  化学・樹脂 試験・分析・測定 家電・AV
    今回は、評価時間短縮編としてお困りごと解決支援例を紹介します。お困りごと解決支援【評価時間短縮編】Q.電気接続部の接触不良を短期間で再現したいのですが、何か 良い評価法はありませんか？ …
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  • 【パナソニック】製品開発の期間短縮に貢献 ＨＡＬＴセミナー＜参加無料＞

    HALT セミナー・見学会
    イベント名 製品開発の期間短縮に貢献　ＨＡＬＴセミナー
    開催期間 2017年02月17日（金）
    13時～16時
    会場名 パナソニック（株）プロダクト解析センター
    会場の住所 大阪府大阪府門真市大字門真1048
    地図 http://www2.panasonic.co.jp/aec/access/index.html
    お申し込み期限日 2017年02月15日（水）20時
    お申し込み受付人数 10  名様
    お申し込み

    このイベントは終了いたしました。イベントの最新情報はこちらをご覧ください。>> 最新イベント情報 Q. 製品開発時、信頼性評価に要する時間を短縮したいのですが、何か良い 評価法はありませんか？ ⇒HALTで製品の…
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  • Ⅲ）HALTで評価してきたもの2

    HALT
    解析センターの藤本です。HALTのコラムの3回目で、前回の事例紹介の続きとなります。 Ⅲ）HALTで評価してきたもの2 ③電気接続部の信頼性評価 電気製品、自動車、住宅など電気を使う製品や場所には必ず、プリント基…
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  • Ⅱ）HALTで評価してきたもの１

    HALT
    解析センターの藤本です。HALTのコラムの2回目です。 Ⅱ）HALTで評価してきたもの１ 解析センターではHALTを活用して、主に様々な家電商品を評価、不具合の再現などを行ってきました。それを分類したのが下の表にな…
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  • HALTとは何をするものですか？

    HALT
    解析センターの藤本です。今回はHALTについて何回かに分けて書いていきます。信頼性性試験の方法の１つとして「HALT」という名前を聞いたことがある方もいらっしゃると思います。HALTに携わっている我々も、ホームペ…
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  • 追加募集　『ＨＡＬＴ試験の活用法・実際例　セミナーご案内』

    HALT セミナー・見学会  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    イベント名 『ＨＡＬＴ試験の活用法・実際例【設備見学/実験デモ付】』
    開催期間 2014年07月10日（木）
    １０：３０～１６：３０
    会場名 パナソニック（株）解析センター
    会場の住所 大阪府大阪府門真市
    地図 http://green.atengineer.com/pr/panasonic_aec/20130423003.html
    お申し込み期限日 2014年07月06日（日）10時
    お申し込み受付人数 100  名様
    お申し込み

    このイベントは終了いたしました。イベントの最新情報はこちらをご覧ください。>> 最新イベント情報 セミナー開催のご案内を申し上げます。ご希望の方は添付のお申込み書にご記入の上、ISS産業科学システムズ様まで…
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  • HALTによる電気接続部の信頼性評価

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は、対象品に高速温度変化と６軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の短期評価に有効です。有効な事例として、カシメやコネクタ等の電気接続部の接触不良を再現した例を紹介しま…
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  • HALTによる電子機器のはんだ接続部評価の加速性評価

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は、対象品に高速温度変化と６軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の超短期評価に有効です。一例として、ヒートショック試験に対する加速性の検証結果を紹介します。 ■ヒート…
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  • 第２回HALT（高加速試験）セミナー＆見学会(追加募集いたします）

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    イベント名 第２回HALT（高加速試験）セミナー＆見学会
    開催期間 2013年11月22日（金）
    13時～15時30分
    会場名 パナソニック解析センター
    会場の住所 大阪府大阪府門真市大字門真１０４８
    地図 http://www2.panasonic.co.jp/aec/access/index.html
    お申し込み期限日 2013年11月15日（金）17時
    お申し込み

    このイベントは終了いたしました。イベントの最新情報はこちらをご覧ください。>> 最新イベント情報 パナソニック㈱解析センターでは、信頼性評価の一つとしてHALT（Highly accelerated life test＝高加速試験）に…
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  • HALTによるはんだクラック再現試験

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    はんだ接続信頼性をHALTで評価することにより、従来のヒートショック（ＨＳ）試験よりも更に早期の評価が可能となり、市場でのトラブル原因の解明や未然防止の対策が早い段階で可能となります。 事例では、プリント…
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  • お申込みによるHALTの見学会

    HALT セミナー・見学会  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    イベント名 お申込みによる　ＨＡＬＴ見学会
    開催期間 2013年07月08日（月） ～ 2013年09月30日（月）
    開催日午後の2時間程度
    会場名 パナソニック解析センター
    会場の住所 大阪府門真市大字門真１０４８
    地図 http://www2.panasonic.co.jp/aec/access/index.html
    お申し込み期限日 2013年09月30日（月）18時
    お申し込み

    このイベントは終了いたしました。イベントの最新情報はこちらをご覧ください。>> 最新イベント情報 お申込みについて お申込み方法①会社単位でお申込みの場合は5名以上で開催致します②お一人の場合は見学のお申…
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  • HALTで微摺動摩耗の影響が短時間で評価可能です

    HALT
    パナソニック解析センターの藤本です。HALTの６軸ランダム振動や複合振動ステップ（温度変化+ランダム振動）により、コネクタやカシメなどの接続部に発生する、微摺動摩耗による接触不良の短時間評価が可能です。 …
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  • HALT試験の活用事例を紹介します

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は高速温度変化と6軸ランダム振動を組み合わせた、高加速（高ストレス）試験ですが、普及途上にある試験のため、その活用事例についてイメージを交えて紹介します。 試験目的試験対象のイメージHALT条件１製…
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  • HALT（高加速限界試験）

    HALT 特殊試験  / 2013年04月23日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT（ Highly Accelerated Limit Test ）とは 対象品に高速温度変化（60℃/分）と６軸ランダム振動を同時に印加できる高加速試験で、製品・部品の弱い部分を顕在化し、設計及び品質評価の時間短縮に貢献します。試…
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  • HALT試験セミナー

    HALT セミナー・見学会  /  自動車 試験・分析・測定 家電・AV
    イベント名 HALT試験セミナー
    開催期間 2013年06月05日（水）
    13：00～15：30（予定）
    会場名 パナソニック解析センター
    会場の住所 大阪府門真市大字門真１０４８
    地図 http://www2.panasonic.co.jp/aec/access/index.html
    お申し込み期限日 2013年05月29日（水）18時
    お申し込み

    このイベントは終了いたしました。イベントの最新情報はこちらをご覧ください。>> 最新イベント情報 パナソニック解析センターでは、信頼性評価の一つとしてHALT試験を行っております。HALT試験は、製品開発や信頼性…
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  • HALT試験は製品・部品の弱い部分を短時間で明らかにできます

    HALT
    こんにちわ、信頼性評価チームの藤本です。信頼性評価チームでは昨年 11月よりHALT試験装置が稼動し試験の受託を開始しました。関西地区の受託試験機関としては初めてのHALT試験装置となります。 HALT試験は、高速温…
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