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パナソニック株式会社　プロダクト解析センター
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「HALT」一覧

すべてのページカテゴリ一覧  »  「HALT」に関するページ

  • HALT（高加速限界試験）のご紹介

    HALT 特殊試験  / 2020年12月22日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT（ Highly Accelerated Limit Test ）とは 対象品に高速温度変化（60℃/分）と６軸ランダム振動を同時に印加できる高加速試験で、製品・部品の弱い部分を顕在化し、設計及び品質評価の時間短縮に貢献します。試…
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  • HALT（高加速限界試験）とは

    HALT  / 2019年06月24日 /  試験・分析・測定
    HALT試験の概要「HALT」とは、対象品に高速温度変化と6軸ランダム振動を同時に印加できる高加速限界試験（Highly Accelerated limit Test）のこと。HALT試験とは製品に強いストレスを加えることで、試験の合否判定で…
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  • 車載用情報機器コネクタのHALT評価

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は、対象品に高速温度変化と６軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の短期評価に有効です。今回は、車載用ＵＳＢコネクタの電気的接続部が、微摺動磨耗が原因で接触抵抗が上昇し…
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  • お困りごと解決支援【評価時間短縮編】

    HALT  / 2017年10月05日 /  化学・樹脂 試験・分析・測定 家電・AV
    今回は、評価時間短縮編としてお困りごと解決支援例を紹介します。お困りごと解決支援【評価時間短縮編】Q.電気接続部の接触不良を短期間で再現したいのですが、何か 良い評価法はありませんか？ …
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  • Ⅲ）HALTで評価してきたもの2

    HALT
    解析センターの藤本です。HALTのコラムの3回目で、前回の事例紹介の続きとなります。 Ⅲ）HALTで評価してきたもの2 ③電気接続部の信頼性評価 電気製品、自動車、住宅など電気を使う製品や場所には必ず、プリント基…
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  • Ⅱ）HALTで評価してきたもの１

    HALT
    解析センターの藤本です。HALTのコラムの2回目です。 Ⅱ）HALTで評価してきたもの１ 解析センターではHALTを活用して、主に様々な家電商品を評価、不具合の再現などを行ってきました。それを分類したのが下の表にな…
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  • HALTとは何をするものですか？

    HALT
    解析センターの藤本です。今回はHALTについて何回かに分けて書いていきます。信頼性性試験の方法の１つとして「HALT」という名前を聞いたことがある方もいらっしゃると思います。HALTに携わっている我々も、ホームペ…
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  • HALTによる電気接続部の信頼性評価

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は、対象品に高速温度変化と６軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の短期評価に有効です。有効な事例として、カシメやコネクタ等の電気接続部の接触不良を再現した例を紹介しま…
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  • HALTによる電子機器のはんだ接続部評価の加速性評価

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は、対象品に高速温度変化と６軸ランダム振動を同時に印加できる劣化促進試験で、電子機器信頼性の超短期評価に有効です。一例として、ヒートショック試験に対する加速性の検証結果を紹介します。 ■ヒート…
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  • HALTによるはんだクラック再現試験

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    はんだ接続信頼性をHALTで評価することにより、従来のヒートショック（ＨＳ）試験よりも更に早期の評価が可能となり、市場でのトラブル原因の解明や未然防止の対策が早い段階で可能となります。 事例では、プリント…
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  • HALTで微摺動摩耗の影響が短時間で評価可能です

    HALT
    パナソニック解析センターの藤本です。HALTの６軸ランダム振動や複合振動ステップ（温度変化+ランダム振動）により、コネクタやカシメなどの接続部に発生する、微摺動摩耗による接触不良の短時間評価が可能です。 …
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  • HALT試験の活用事例を紹介します

    HALT  /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT試験は高速温度変化と6軸ランダム振動を組み合わせた、高加速（高ストレス）試験ですが、普及途上にある試験のため、その活用事例についてイメージを交えて紹介します。 試験目的試験対象のイメージHALT条件１製…
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  • HALT（高加速限界試験）

    HALT 特殊試験  / 2013年04月23日 /  電子・半導体 試験・分析・測定 家電・AV
    HALT（ Highly Accelerated Limit Test ）とは 対象品に高速温度変化（60℃/分）と６軸ランダム振動を同時に印加できる高加速試験で、製品・部品の弱い部分を顕在化し、設計及び品質評価の時間短縮に貢献します。試…
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  • HALT試験は製品・部品の弱い部分を短時間で明らかにできます

    HALT
    こんにちわ、信頼性評価チームの藤本です。信頼性評価チームでは昨年 11月よりHALT試験装置が稼動し試験の受託を開始しました。関西地区の受託試験機関としては初めてのHALT試験装置となります。 HALT試験は、高速温…
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