理化学分析

 市場や生産工程で発生した製品の不良・不具合や異物の混入など、もの作りにおいて製品トラブルは必ず発生し、不良対策を施すことは必須となっています。
　クオルテックでは各種分析機器を用いて、製品の材料や表面・断面分析を行うことにより、不具合品の原因追究、現象やメカニズムの解明に取り組み、過去の豊富なデータベースや知見から適切な分析手法を用いて原因を解明し、お客様の生産性向上・品質向上に貢献して参ります。

SEM観察装置　（二次電子顕微鏡観察装置）

試料に細く絞った電子線を照射し拡大像を得る装置。ミクロン以下の微小形状が観察可能で、試料表面の微細な凹凸や材料・組織構造の変化などを観察することにより良否判断が可能です。

S／TEM（走査型／透過電子顕微鏡）　

　　FIBなどで薄片化した試料に電子ビームを照射し、試料を透過してきた電子情報を捉え、

　　原子・分子像を直接観察可能なレベルでの高倍率・高分解能観察が可能な装置です。

　　TEMは電子ビームを試料通過後に結像し、S／TEMは極小に絞った電子ビームを試料に

　　照射することで、試料内部の原子像分布・形態・組成像・結晶構造などを画像化する

　　ことが出来ます。 

EBSD　（電子線後方散乱回折装置）

FE-SEMに付帯し結晶性材料の方位評価に用います。大面積を一括で評価可能で、結晶方位・結晶粒サイズ・歪み・応力評価などに適用されます。

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FT-IR分析装置　（フーリエ変換型赤外分光分析装置）

試料に赤外光を当て、試料材料の分子振動によって吸収される赤外スペクトルを測定することにより物質の定性を行います。主に有機物質の同定に用いられるが、一部の無機物や定量評価にも使用されます。対象物の形状・形態などに合わせ、透過法・反射法・ATR法など手法を変えることができます。

GC-MS　（ガスクロマトグラフ-質量分析装置）

ガス化した試料や試料中の成分をクロマトにて分離し、成分毎の材料が何であるかをMS（質量分析器）により同定する装置。気体だけでなく液体や固体中の成分も昇温操作（加熱）により分析可能です。微量分析が可能で材料中の添加物や不純物も分析可能。FT-IRと組み合わせて、有機材料中の添加物分析や微量不純物分析に威力を発揮します。

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