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パワー半導体の信頼性試験における短絡状態とは通常、パワー半導体デバイスは、高速のスイッチとして動作します。スイッチとして動作しているときは、オフ（電圧：大、電流：微小）とオン（電圧：小、電流：大）の二…
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ディスプレイ製品の不良解析、構造解析、信頼性試験◾️パネル評価・解析、信頼性試験、表示不良解析、パネル構造解析、EMC対策等パネルモジュールの品質、分析をトータルサポートします。・信頼性評価のための駆動…
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- 引張（圧縮）試験を行う際に、弾性率を測定できるひずみゲージを用いた測定が可能です。 (2023年05月30日)
- ハンマに加速度センサを取り付けることにより、3kHz以上の共振周波数測定も対応可能となりました。 (2023年05月16日)
- AFMによるnmオーダで試料表面の凹凸状態を計測することで、材料開発に役立てることができます。 (2023年05月02日)
- ねじの締め付けで適切なトルク管理が必要な試験において、各種トルク法を用いて締結評価を行います。 (2023年04月18日)
- はんだにおける、金属間化合物層の厚みと、その接合強度を調査いたします。 (2023年04月04日)
