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概要試料表面の導電被膜形成処理として、金属オスミウム(Os)の極薄膜コーティングを行います。<br>熱ダメージもなく、nm単位の膜厚を高い再現性で成膜できます。また、試料表面に膜由来の形状が現れず、表面形状観…
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ロックイン発熱解析装置「ELITE」概要発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です…
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