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分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験 株式会社クオルテック
事例

ドライ断面加工(乾式断面加工)

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試験・分析・測定

概要

断面試料作製において、機械研磨は広範囲を観察・分析する有効な手法です。
しかしながら、樹脂に埋めて、水を使用しながらの研磨になります。水分を嫌う試料は、断面作製が困難でした。
断面イオンミリング装置を用いることで、樹脂に埋めず、水を使用しない断面試料の作製が可能です。

特長

厚みのある試料はハサミなどで切断し、断面ミリングで仕上げ加工を行うことで、歪みのない断面構造を観察・分析が可能です。
厚みのない試料は、銅板に挟むことで強度を保ち、乾式研磨で粗研磨を行い、断面ミリングで仕上げ加工を行うことで、歪みがなく断面構造を観察・分析が可能となります。
熱に弱い試料は、冷却断面ミリングを用いることで、断面試料作製が可能です。

事例

機械研磨では難しい試料でも、断面ミリングによって構造を保持したまま断面を露出できます。
右の事例は、コピー用紙を2枚の銅板の間に挟み込んで加工しました。

(作製実績)
・多孔質フィルム
・ペーパー
・樹脂系エラストマー


豊富な経験と知見を有するクオルテックの技術者が、お客さまの開発をサポートいたします。

ドライ断面加工(乾式断面加工)事例

設備紹介(1)

メーカ:日本電子
型番:SM-09020CP  所有台数:3台
型番:IB-09020CP  所有台数:2台
型番:IB-19510CP  所有台数:2台
型番:IB-19530CP  所有台数:2台
  • イオン加速電圧:3~6kV
  • イオンビーム径:1mm(加速電圧:6kV,試料:Si)
  • ミリングスピード:100µm/h(加速電圧:6kV,試料:Siエッジ距離:100µm)
  • ミリング範囲:1mm
  • 最大搭載試料サイズ:W9×D10×H2mm
  • 使用ガス:アルゴンガス
  • その他:耐熱温度が100°C以下のサンプルは加工不可。
設備紹介(1)

設備紹介(2)

メーカ:日本電子
型番:IB-19520CCP(冷却CP)  所有台数:2台
  • ミリングスピード:500µm/h
    ※2時間の平均値。加速電圧:8 kV、Si換算、エッジ距離100µm)
  • 試料ホルダー冷却到達温度:-120°C以下
  • 試料冷却:-100°C到達時間:60分以内
  • イオン光学系
    イオン加速電圧:2~8 kV
    イオンビーム径:500µm(半値幅)
    間欠機能(詳細設定有り)
設備紹介(2)
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