試験一覧
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走査透過電子顕微鏡（STEM）はFIBなどで薄片化した試料に電子ビームを照射し、試料を透過してきた電子情報を捉え、原子・分子像を直接観察可能なレベルでの高倍率・高分解能観察が可能な装置です。走査透過電子顕微…
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CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており物体を走査(scan)することからX線CTスキャンと呼ばれています。特徴としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理を行うこ…
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温度だけでなく湿度も一定に保ったまま槽内で長時間の通電による特性劣化の変動を評価したり、マイグレーションやウィスカの加速評価等を行う試験です。
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帯電した導電性の物体が他の導電性の物体に接触し、あるいは充分に接近すると、激しい放電が発生します。この現象はESD（electro-static discharge：静電気放電）と呼ばれ、誤動作や損傷などの問題を引き起こすこと…
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■HAST（不飽和加圧蒸気試験）電子部品の信頼性試験（評価）に採用されたもので、デバイスに温度と湿度ストレス、場合によってはバイアスを同時に加える方法がとられており、並列複合試験の代表的な試験方法です。■…
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