「分析・故障解析」一覧
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「分析・故障解析」に関するページ
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概要ガスクロマトグラフィ（Gas Chromatography, GC）はクロマトグラフィの一種であり、気化しやすい化合物の同定・定量に用いられる機器分析の手法です。 試料から放出されたガス成分をカラムを用いて分離し、分離…
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概要試料表面の導電被膜形成処理として、金属オスミウム（Os）の極薄膜コーティングを行います。<br>熱ダメージもなく、nm単位の膜厚を高い再現性で成膜できます。また、試料表面に膜由来の形状が現れず、表面形状観…
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ロックイン発熱解析装置「ELITE」概要発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です…
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株式会社クオルテック「名古屋品質技術センター」は、2021年5月1日を持ちまして、開所二周年を迎えます。これもひとえに、お客様はじめ関係各所の皆様の温かいご厚情の賜物と、心より深く御礼申し上げます。自動車の…
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概要パワーサイクル試験は、デバイスへの通電電流による発熱によりTj(半導体チップ温度)が一定の温度変化を繰り返した際の熱ストレスに対し、その耐久性を確認する試験です。パワーサイクル試験では半導体に通電する…
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- ガスクロマトグラフ質量分析計（GC/MS）の原理と特長 (2021年06月11日)
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- 半導体チップ温度Tj測定法の種類と特徴 (2021年04月26日)
