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「分析試料作製」一覧

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IB-19510CP「断面試料作製装置」を導入

分析試料作製観察 / 自動車電子・半導体光学機器

IB-19510CP 断面試料作製装置を新規導入しました。新たに導入したCPは高速&仕上げ加工の搭載により高スループットと高い断面品質を実現。 IB-19510CP 断面試料作製装置・CP保有台数業界No.1!・最短納期２日!※サン…

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超音波切断機を使用した断面研磨作製

分析試料作製観察 / 電子・半導体試験・分析・測定

■概要超音波切断機とは､従来の回転式の切断ブレードに超音波振動を加えながら切断を行う装置です｡断面観察を必要とする試料の必要な位置を高精度で切ると共に、Polish Cut効果で「切る」「磨く」を同時に行い、…

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複合材の特殊加工（フライス加工）

分析試料作製 / 自動車試験・分析・測定家電・AV

■概要強度試験や観察前処理としての加工、環境試験用の簡易冶具作製に伴う、特殊な評価サンプル作製は、弊社加工機を用いて加工作業も承ります。複合材は単一材よりも加工が複雑になるため、各種ご要望に合わせ…

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金属バンドソーによる切断加工

分析試料作製分析・解析 / 鉄／非鉄金属電子・半導体試験・分析・測定

■概要バンドソーは、細長い輪状の平らな刃を回転しながら切断するという構造となっています。また、金属バンドソーは、金属を切断できる工具の中では安全(火花がでない)で、切断環境を選ばないという利点がありま…

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【有機EL研究】有機EL成膜装置を新規導入しました｡

分析試料作製研究開発 / 電子・半導体試験・分析・測定家電・AV

有機EL成膜装置を新規導入しました｡ 2016年12月15日導入 EL材料特性検討､EL素子の作製､ELプロセスの研究・開発・検証が可能です。本装置は､高真空雰囲気にて基板表面に有機材料および金属材料を連続的に…

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FIB（Focused Ion Beam）断面加工・観察

観察分析試料作製 / 自動車電子・半導体試験・分析・測定

■概要FIBはSEM（電子顕微鏡）と類似の構造で、一次ビームを電子ビームではなくGaイオンとしたもので、試料の断面加工・観察や薄片化加工に用いられます。最近ではSEM・S／TEMとFIBが同一チャンパーで一体となった…

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冷間CP（クロスセクションポリッシャ）技術

分析試料作製 / 自動車電子・半導体試験・分析・測定

■概要従前のCP加工ではアルゴンイオンビームを試料断面に照射する場合、加速されたアルゴン＋イオンが試料に衝突する際の※1摩擦熱等で、どうしても100℃前後まで試料表面が加熱されます。試料観察断面にそのよう…

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試料作製：クオルテック断面研磨パンフレット2014年版

分析試料作製 / 自動車鉄／非鉄金属電子・半導体

試料作製 - 断面研磨パンフレット株式会社クオルテックでは、分析・評価に必要不可欠な断面観察用の試料を作製しています。20年以上に渡って断面研磨の技術を磨き、高品質な断面試料をスピーディーに提供致し…

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試料作製

分析試料作製観察 / 自動車電子・半導体試験・分析・測定

断面試料作製は、信頼性試験を始めとした評価・検討するために必要な良品・不良品解析・分析を実施する上で、不可欠な技術となっております。私たちクオルテックは、光学及び電子顕微鏡による表面観察、元素分析に加…

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