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分析、故障解析、信頼性試験、試料作製、レーザ加工、再現実験　株式会社クオルテック

「観察」一覧

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  • IB-19510CP「断面試料作製装置」を導入

    分析試料作製 観察  /  自動車 電子・半導体 光学機器
    IB-19510CP 断面試料作製装置を新規導入しました。 新たに導入したCPは高速&仕上げ加工の搭載により高スループットと高い断面品質を実現。 IB-19510CP 断面試料作製装置 ・CP保有台数業界No.1!・最短納期２日!※サン…
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  • 超音波切断機を使用した断面研磨作製

    分析試料作製 観察  /  電子・半導体 試験・分析・測定
    ■概 要 超音波切断機とは､従来の回転式の切断ブレードに超音波振動を加えながら切断を行う装置です｡断面観察を必要とする試料の必要な位置を高精度で切ると共に、Polish Cut効果で「切る」「磨く」を同時に行い、…
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  • X線CT（高分解能）

    分析・解析 観察  /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ■概 要 CTとはComputed Tomographyの省略で、コンピュータ断面撮影法と呼ばれており物体を走査(scan)することからX線CTスキャンと呼ばれています。 特徴としては、物体をさまざまな方向からX線で撮影し、再構成処理…
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  • 【EMC技術】基板のグラウンドパターンが信号伝送におよぼす影響

    測定 観察  /  自動車 IT・情報通信 電子・半導体
    ■概 要EMC性能を考慮した基板設計においては、基板のグラウンドパターン設計が非常に重要な要素です。信号電流の帰路となるグラウンドパターンを流れる電流に対する阻害要因があると、信号電力の伝送に影響を与え、…
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  • FIB（Focused Ion Beam）断面加工・観察

    観察 分析試料作製  /  自動車 電子・半導体 試験・分析・測定
    ■概 要FIBはSEM（電子顕微鏡）と類似の構造で、一次ビームを電子ビームではなくGaイオンとしたもので、試料の断面加工・観察や薄片化加工に用いられます。最近ではSEM・S／TEMとFIBが同一チャンパーで一体となった…
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